您好,欢迎您查看分析测试百科网,请问有什么帮助您的?
如果企业客服不在线,也可拨打400电话联系。或者发布求购信息
UI3064A/UI3164A是由联合仪器研发设计,针对低阶数字芯片的测试系统。此系统采用PXI架构,配置多块板卡,可靠性高,扩展性好,可按照客户需求配置相应功能,为客户提供灵活开放的服务。
目标器件:● 数字芯片,指纹识别芯片等
低阶数字芯片测试机UI3064A/UI3164A,UI3064A/UI3164A
低阶数字芯片测试机UI3064A/UI3164A信息由北京汉通达科技有限公司为您提供,如您想了解更多关于低阶数字芯片测试机UI3064A/UI3164A报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
SN/T 3480.4-2016 进口电子电工行业成套设备检验技术要求 第4部分:半导体封装测试设备
GB/T 26111-2010 微机电系统(MEMS)技术 术语
DB37/T 4191-2020 矿井通风阻力测试细则
NY/T 1959-2010 农业科学仪器设备分类与代码
JB/T 7081-1993 电工专用试验仪器设备型号编制方法
QJ 10005-2008 宇航用半导体器件重离子单粒子效应试验指南
SJ 50033.40-1994 GT11型半导体硅NPN光敏晶体管详细规范
QJ 1908A-1998 半导体器件验收开盖检查方法
DB50/T 1066-2020 投资项目基础数据分类与编码规范
GB/T 14862-1993 半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法
GB/T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法
GJB 5426.10-2006 国防科技工业物资分类与代码 第10部分:仪器仪表
DB44/T 1639.1-2015 半导体照明标准光组件总则 第1部分 层级划分
GB/T 17573-1998 半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分;总则
SF/T 0077-2020 汽车电子数据检验技术规范
DB42/T 1521-2019 电梯能效测试与评价规则
GA/T 1755-2020 安全防范 人脸识别应用 人证核验设备通用技术要求
GB/T 20515-2006 半导体器件 集成电路 第5部分:半定制集成电路
NB/T 20197.4-2015 核电厂仪表和控制设备可靠性及老化检测 第4部分:电路板
SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法
生物药工艺开发与优化
转矩流变仪的功能与应用概述
活细胞内RNA动力学追踪成像新工具
沃特世UPLC 20周年庆 : 超越高效二十载
MEMS芯片转台测试系统UI320A
MEMS芯片测试机UI300A
100M动态数字功能板卡
电动汽车BMS主要芯片及厂商分析
芯片行业,何时走出至暗时刻?
碳化硅功率器件测试
AI入侵芯片设计,会干掉工程师吗?
北京汉通达科技有限公司免费发放"冰激凌"为你的测试焦虑降温
摩托罗拉BB机拆解:经典电路再现
Copyright ©2007 ANTPedia, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号