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聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统-ZEM-d
参考价：面议
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参数
| 产地类别：进口 | 供应商性质：总代理 |
产品介绍
聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统-ZEM-d
日本ADVANCE RIKO公司塞贝克系数与电阻测量系统ZEM系列在全球销售量超过300台，广获全球科研及工业用户的赞誉，成为热电材料领域应用广泛的测试设备。2019年，在此前的成功基础上，ADVANCE RIKO公司推出了专门用于评价聚合物厚度方向上热电性能的全新设备ZEM-d。
与之前ZEM系列产品（ZEM-3/ZEM-5）不同，新型号ZEM-d主要测量聚合物薄膜厚度方向上的塞贝克系数和电阻率，可以测量的样品薄为10μm。此外，ZEM-d与采用激光闪光法测量薄膜的热扩散率/导热系数测量方向一致，其测量结果可广泛应用于薄膜热电材料的性能评价。
ZEM-d测量原理
现存测试方法 |
ZEM-d（厚度方向测量） |
电阻率测量原理
塞贝克系数测量原理
ZEM-d技术参数
测量参数 塞贝克系数，电阻率
温度范围 高200℃（样品表面）
样品尺寸 截面：Φ20mm（Max），长度：0.01-20mm
测量氛围 空气或惰性气体
软件界面
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聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统-ZEM-d信息由清砥量子科学仪器（北京）有限公司为您提供，如您想了解更多关于聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统-ZEM-d报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
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最新评论
filmMasterX
温度范围够用，样品尺寸限制有点多，如果能有更多尺寸选择就完美了。不过，还是值得推荐的好产品！
2023.11.15
user12345
用了ZEM-d几个月了，总体满意，但希望软件可以再优化一下，有时候数据导出有点慢。
2022.08.30
techGeek888
这款ZEM-d系统真的很牛！测量精度高，操作界面也很友好，对于我们实验室的薄膜研究帮助很大。
2021.04.22
