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聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统-ZEM-d(ADVANCE RIKO)

QUANTUM量子科学仪器贸易(北京)有限公司

ZEM-d主要测量聚合物薄膜厚度方向上的塞贝克系数和电阻率,可以测量的样品最薄为10μm。此外,ZEM-d与采用激光闪光法测量薄膜的热扩散率/导热系数测量方向一致,其测量结果可广泛应用于薄膜热电材料的性能评价。

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