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日立热场扫描电镜SU7000
日立热场扫描电镜SU7000SU7000采用全新设计的探测器,使得对二次电子信号、背散射电子信号的检测以及分离能力大大提升。SU7000通过新研发的样品仓以及检测器系统,可在不改变WD的条件下更高效地接收各种信号,缩短了样品观察和分析的时间,提高了测试效率。它还标配超大样品仓,增设了附件接口,可适用于各种样品的观察与分析。
SU7000采用全新设计的探测器,使得对二次电子信号、背散射电子信号的检测以及分离能力大大提升。SU7000通过新研发的样品仓以及检测器系统,可在不改变WD的条件下更高效地接收各种信号,缩短了样品观察和分析的时间,提高了测试效率。它还标配超大样品仓,增设了附件接口,可适用于各种样品的观察与分析。
日立热场扫描电镜SU7000主要特点:
在相同WD的条件下,可同时实现二次电子、背散射电子观察与X射线分析
最多可同时实现6通道检测与显示
可配置18个附件接口
应用领域:
金属
复合材料
半导体器件
EBSP分析
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