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显微分光膜厚仪OPTM SERIES
OPTM显微分光膜厚仪是FE-3000反射分光膜厚计的第二代产品。OPTM沿用分光干涉法,可测量绝对反射率、多层膜厚、折射率和消光系数,纳米级测量,精度高。OPTM可用于FPD构件(PI膜、ITO膜、CF膜)、光触媒、汽车零件DLC膜、半导体材料氧化层、光学材料薄膜等材料的无损非接触式测量,检测时间仅需1秒。
产品特点:
·非接触非破坏式测量
·高速拍摄自动对焦,1秒即可得到结果
·波长范围广(紫外-近红外),可测量厚度或颜色不同的各种薄膜
·操作简单,无经验也可轻松解析光学常数
·开放而安全的操作台,光栅传感器触发停止,避免损伤。
产品参数:
大塚电子显微分光膜厚仪OPTM,OPTM
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激光粒径仪 ELSZ-2000
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