多年来,扫描探针图像处理软件SPIP™,已经成为实际意义上的纳米级图像处理的标准。第一版SPIP™发布于1995年。然而Image Metrology公司的创始人Dr.Jan F. Jørgensen已于5年前就开始在其工科博士研究部分项目中开发SPIP™图像处理软件。期间曾与IBM及丹麦基础计量研究所及丹麦科技大学等单位合作开发SPIP™软件。 在超过42个国家的前沿的研究机构和高科技公司将SPIP™图像处理软件应用于半导体检测中,物理,材料科学,化学,生物学,计量学技术,纳米技术等很多领域。