多年来，扫描探针图像处理软件SPIP™，已经成为实际意义上的纳米级图像处理的标准。第一版SPIP™发布于1995年。然而Image Metrology公司的创始人Dr.Jan F. Jørgensen已于5年前就开始在其工科博士研究部分项目中开发SPIP™图像处理软件。期间曾与IBM及丹麦基础计量研究所及丹麦科技大学等单位合作开发SPIP™软件。
在超过42个国家的前沿的研究机构和高科技公司将SPIP™图像处理软件应用于半导体检测中，物理，材料科学，化学，生物学，计量学技术，纳米技术等很多领域。
 
 
SPIP™图形分析软件支持包括扫描探针显微（SPM），干涉显微镜，扫描电子显微镜（SEM），共聚焦显微镜，光学显微镜，和三维轮廓仪等各种类型的显微镜及他们所生成的数据文件。无论你是资深的用户或者是刚刚入门的图像处理的初学者。使用SPIP™图像处理软件，您只需点击几下鼠标即可得到您需要的分析结果。
SPIP™图像处理软件是一个模块化的软件，提供包括一个基础软件分析模块和13个可选的附加模块。基础模块包含必要的基本特征分析，例如文件读取、数据分析、平面校正等功能。附加模块则是为针对某些特定功能测试提供，包括归一化校准、降低噪声、分析、3D构建。在随后的彩页中你会发现各项功能的详细介绍。从中您可以学到如何提高您工作的效率和质量。
 
¨      扫描探针显微镜（SPM）
¨      扫描电子显微镜（SEM）
¨      透射电子显微镜（TEM）
¨      干涉仪
¨      共焦显微镜
¨      三维轮廓仪
 
 
 
---基本分析模块
校准和特征展现
---校准
---针尖的表征
降低噪声，提高特征
---相关平均
---滤波
---扩展的傅立叶分析
测量和分析
---粒度分析
---粗糙度及硬度分析
---力曲线的分析
---隧道效应光谱电流图像
可视化
---三维可视化工作环境
---视频与时间序列分析
增益生产能力
批量处理模块和自动报告
组织
--- 图片浏览器
定制
---插头接口

SPIP材料表面分析软件信息由北京维泰凯信新技术有限公司为您提供，如您想了解更多关于 SPIP材料表面分析软件报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途