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OptoTop® 高精度纳米级三维形貌仪
设备介绍: OptoTop®不仅可以测量材料的表面三维形貌,而且可以测量表面的颗粒度,纳米颗粒大小和粗糙度,以及复杂的表面磨耗性能。OptoTop®可满足研发、磨损分析、失效分析及工艺控制等领域的需求。 设备优点: ¤ 操作简便 ¤ 高速数据采集能力 ¤ 强大的数据分析能力 ¤ 对各种材料和涂层进行智能测量 ¤ 线性轮廓的微粗糙度值 ¤ 实现2-D线性剖面,3-D显示表面轮廓及高度剖面 应用领域: ◆ 平坦、结构性及弯曲表面的粗糙度及结构分析 ◆ 测量宏观和微观的几何结构 ◆ 表面控制,例如滚动起伏(选购配件:移动式装置) 技术资料
OptoTop® 高精度纳米级三维形貌仪,OptoTop®
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