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产品简介
HCP421V-PM可单独使用,也可搭配显微镜/光谱仪使用。其可在 -190℃ ~ 400℃ 范围内控温,同时允许探针电测试、光学观察和样品气体环境控制。探针台上盖与底壳构成一个可抽真空的密封腔,亦可内充入氮气等保护气体,来防止样品在负温下结霜,或高温下氧化。
功能特点
迷你温控探针台,可用于 显微镜/光谱仪
-190℃~400℃ 可编程控温(负温需配液氮制冷系统)
28 mm x 30 mm加热区
可抽真空的腔体,亦可充入保护气体使用
BNC接口四探针,手动点针 *可选三同轴接口,用于pA级测试
可选增设腔内接线柱(样品接电引线)
可从温控器或电脑软件控制,可提供软件SDK
*可做定制或改动,详询上海恒商
温控参数
温度范围
-190℃ ~ 400℃(负温需配液氮制冷系统)
传感器/温控方式
100Ω铂RTD / PID控制(含LVDC降噪电源)
最大加热/制冷速度
+80℃/min (100℃时),-50℃/min (100℃时)
最小加热/制冷速度
±0.01℃/min
温度分辨率
0.01℃
温度稳定性
±0.05℃(>25℃),±0.1℃(<25℃)
软件功能
可设温控速率,可设温控程序,可记录温控曲线
电学参数
探针
默认为铼钨材质的弯针探针 *可选其他种类探针
探针座
杠杆式探针支架,点针力度更大,电接触性更好
点针
手动点针,每个探针座都可点到样品区上任意位置
探针接口
默认为BNC接头,可选三同轴接口
*可增设腔内接线柱(样品接电引线)
样品台面电位
默认为电接地,可选电悬空(作背电极),可选三同轴接口
非磁性改造
台体可改用非磁性材质制造,用于变温霍尔效应探针测试
光学参数
适用光路
反射光路 *另有透射光路型号
窗片
可拆卸与更替的窗片
最小物镜工作距离
8.5 mm *截面图中WD
透光孔
台面默认无通光孔,可增设通光孔以支持透射光路
上盖窗片观察
窗片范围φ38mm,最大视角±60.7° *截面图中θ1
负温下窗片除霜
吹气除霜管路
结构参数
加热区/样品区
28 mm x 30 mm
样品腔高
6.3 mm *样品最大厚度由探针决定
放样
打开上盖后置入样品再点针,关上盖后无法移动探针
气氛控制
外壳冷却
可通循环水,以维持外壳温度在常温附近
安装方式
水平安装 或 垂直安装
台体尺寸/重量
180 mm x 130 mm x 27 mm
温控探针台 真空/气密 HCP421V-PM 美国Instec,HCP421V-PM
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