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产品性能:
少子寿命测试仪性能参数:
测量原理: QSSPC(准稳态光电导);少子寿命测量范围: 100 ns-10 ms;测试模式:QSSPC,瞬态,寿命归一化分析;电阻率测量范围: 3–600 (undoped) Ohms/sq.;注入范围:1013-1016cm-3;感测器范围: 直径40-mm;测量样品规格 标准直径: 40–210 mm (或更小尺寸);硅片厚度范围: 10–2000 μm;外界环境温度: 20°C–25°C;功率要求: 测试仪: 40W, 电脑控制器:200W ,光源:60W;通用电源电压: 100–240 VAC 50/60 Hz;
主要特点: 适应低电阻率样片的测试需要,最小样品电阻率可达0.1ohmcm 全自动操作及数据处理 对太阳能级硅片,测试前一般不需钝化处理 能够测试单晶或多晶硅棒、片或硅锭 可以选择测试样品上任意位置 能提供专利的表面化学钝化处理方法 对各道工序的样品均可进行质量监控: 硅棒、切片的出厂、进厂检查 扩散后的硅片 表面镀膜后的硅片以及成品电池
少子寿命测试仪技术参数:
FAQ:
用途、光伏,硅片检测
包装、纸质包装
售后服务:一年保修,终身维护
用途、光伏测试
售后服务
一年保修
Sinton+WCT120+硅片少子寿命测试仪,WCT-120
Sinton+WCT120+硅片少子寿命测试仪信息由上海瞬渺光电技术有限公司为您提供,如您想了解更多关于Sinton+WCT120+硅片少子寿命测试仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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