Sinton+WCT120+硅片少子寿命测试仪

产品性能:

少子寿命测试仪性能参数：

测量原理： QSSPC（准稳态光电导）；
少子寿命测量范围： 100 ns-10 ms；
测试模式：QSSPC,瞬态，寿命归一化分析；
电阻率测量范围： 3–600 (undoped) Ohms/sq.；
注入范围：10¹³-10¹⁶cm^-3；
感测器范围： 直径40-mm；
测量样品规格 标准直径: 40–210 mm （或更小尺寸）；
硅片厚度范围： 10–2000 μm；
外界环境温度： 20°C–25°C；
功率要求： 测试仪: 40W， 电脑控制器：200W ，光源：60W；
通用电源电压： 100–240 VAC 50/60 Hz；

主要特点:
　　适应低电阻率样片的测试需要，最小样品电阻率可达0.1ohmcm
　　全自动操作及数据处理
　　对太阳能级硅片，测试前一般不需钝化处理
　　能够测试单晶或多晶硅棒、片或硅锭
　　可以选择测试样品上任意位置
　　能提供专利的表面化学钝化处理方法
　　对各道工序的样品均可进行质量监控：
　　硅棒、切片的出厂、进厂检查
　　扩散后的硅片
　　表面镀膜后的硅片以及成品电池

少子寿命测试仪

技术参数：

FAQ:

用途、光伏,硅片检测

包装、纸质包装

售后服务:一年保修,终身维护       

用途、光伏测试

包装、纸质包装

售后服务

一年保修       

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途