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金属多元素分析仪X-RAY XAN® 250/252、XDL®、XDV®-SDD(菲希尔)

上海昊扩科技发展有限公司

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FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 250/252高性能X射线荧光测量仪,配有最先进的硅漂移探测器(SDD),可快速、无损地进行RoHS检测、材料分析和镀层厚度测量。特点高性能机型,具有强大的综合测量能力配有4 个电动调节的准直

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