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金属多元素分析仪X-RAY XAN® 250/252、XDL®、XDV®-SDD

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参考报价: 面议 型号: X-RAY XAN® 250/252、XDL®、XDV®-SDD
品牌: 菲希尔 产地: 德国
关注度: 47 信息完整度:
样本: 典型用户: 暂无
供应商性质区域代理产地类别进口
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FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 250/252

高性能X射线荧光测量仪,配有最先进的硅漂移探测器(SDD),可快速、无损地进行RoHS检测、材料分析和镀层厚度测量。


特点

高性能机型,具有强大的综合测量能力

配有4 个电动调节的准直器和6个电动调节的基本虑片

配备高分辨率硅漂移探测器 (SDD),还适用于更复杂的多元素分析

由下至上的测量方向,可以非常简便地实现样品定位  

典型应用领域

对电子和半导体行业中仅几个纳米的功能性镀层进行测量

对有害物质进行痕量分析,例如,玩具中的铅含量

在珠宝和手表业,以及在金属精炼领域,对合金进行高精度的分析

用于高校研究和工业研发领域 



FISCHERSCOPE® XDL®

X射线荧光测试仪,可手动或全自动测量功能性镀层(包括铬层测厚、铜厚测量)、防腐蚀镀层和大规模生产零部件


XDL镀层厚度测量仪特点

坚固耐用的镀层厚度测量设备,甚至可在较大的距离测量(DCM功能,范围0-80 mm)工作

固定光圈和固定滤光镜

用于1mm起大小的测量点

底部C型开槽的大容量测量舱

可编程的台式设备,用于自动测量

标准X射线管,比例计数器 

XDL镀层厚度测量仪典型应用领域

测量大规模生产的电镀零件

防腐镀层和装饰性镀层,如镍/铜上的铬。铬层测厚、铜厚测量

电镀工业中电镀液的分析

黄金、珠宝和钟表工业



FISCHERSCOPE® XDV®-SDD

高性能X射线荧光测试仪,配有可编程XY平台和Z轴,可自动测量超薄镀层和分析痕量元素


仪器特点

高级型号仪器,具有常见的所有功能

射线激发量的灵活性最大,激发量可根据测量面积大小和光谱组成而改变

通过硅漂移探测器,在 > 10万cps(每秒计数率) 的超高信号量下也可以正常工作,而不会出现能量分辨率的降低

极低的检测下限和出色的测量重复度

带有快速、可编程 XY 工作台的自动测量仪器

大容量便于操作的测量舱

典型应用领域

测量极薄的镀层,例如应用于电子和半导体行业中

痕量分析,例如根据 RoHS、玩具标准、包装标准对有害物质进行检测

进行高精度的黄金和贵金属分析

光伏产业

测量 NiP 镀层的厚度和成分 


金属多元素分析仪X-RAY XAN® 250/252、XDL®、XDV®-SDD信息由上海昊扩科技发展有限公司为您提供,如您想了解更多关于金属多元素分析仪X-RAY XAN® 250/252、XDL®、XDV®-SDD报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。

注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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