HE-Ⅱ半球发射率测试仪

一、仪器简介：

HE-Ⅱ半球发射率测试仪是专业为镀膜玻璃、反射隔热涂料、伪装涂层和航空航天特种涂层等各种材料设计的便捷检测设备。本仪器由辐射探头系统、高低发射率板，高低发射率玻璃板、主机等组成。该设备具有性价比高并且有操作上方便、性能上稳定可靠等优点。适用于建筑节能、材料科学研究和航空航天特种涂层等领域对材料半球发射率的测量与研究。

二、适用标准及方法：

《JG/T235-2014建筑反射隔热涂料》

《JGJ/T287-2014建筑反射隔热涂料节能检测标准》

《GB/T 25261-2018 建筑用反射隔热涂料》

《JC/T 1040-2020 建筑外表面的热反射隔热涂料》

《GJB2502.3-2006航天器热控涂层试验方法-发射率测试》

三、仪器特点：

探测器：辐射计探测器主要由探头壳体和测量探头组成，探头包括探头基座用于安装测温元件，测温元件的顶端设有测温模块，用于测量高低辐射区温差并输出电压信号。

热沉：热沉的输入端与控制接口的输出端相连，用于试验时放置被测样品和标准板，热沉 的上表面设有用于提供恒温的加热片，以使试验过程中标准板与测试样品保持相同、稳定的温度。

便携测量：仪器设计轻便，能够实现对接近常温条件下材料的半球发射率参数的便携测量。

测试软件：该设备采用温差与试板的发射率之间的关系为原理而专门设计的软件，  可以直接得到镀膜玻璃、反射隔热涂料、伪装涂层和航空航天特种涂层等的半球发射率的性能指 标数值。

规格参数

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