白光干涉摩擦磨损三维形貌快速精准高效测量仪

SuperViewW白光干涉摩擦磨损三维形貌快速精准高效测量仪，解决玻璃屏粗糙度与模具瑕疵检测难题。

技术参数

1.重复性：粗糙度RMS重复性可达 0.005nm（依据ISO 25178标准，测量Sa为0.2nm硅晶片）。

2.台阶测量精度：准确度达 0.3%，重复性 0.08% (1σ)。

3.超高分辨率：Z向扫描范围10mm，形貌重复性STR达 0.1nm。

4.气浮隔振：标配气浮式隔振底座，有效隔离地面振动噪声，确保每一次微观测量的精准 。

对于3C电子与光学加工行业而言，零部件表面的微小瑕疵可能导致严重的产品缺陷。SuperView W1系列是您品质管控的得力助手。

1.3C电子玻璃屏：快速扫描玻璃表面，量化粗糙度数据，评估抛光工艺质量 。

2.精密模具检测：针对手机金属壳等模具，精准捕捉表面微小的磨损与瑕疵，提前预警，降低次品率。

3.光学元件：无论是超光滑透镜还是微纳光学结构，W1都能提供非接触式的高精度轮廓分析。

配合自动拼接测量功能，即使是大尺寸的精密部件，也能一次性获取完整的高精度3D数据。

用数据说话，为您的科研与生产提供最严谨的数据支撑。立即咨询！获取白光干涉摩擦磨损三维形貌快速精准高效测量仪产品演示视频。

注：产品参数与配置以实际交付为准，中图仪器保留根据技术升级调整相关内容的权利，恕不另行通知。

白光干涉摩擦磨损三维形貌快速精准高效测量仪信息由深圳市中图仪器股份有限公司为您提供，如您想了解更多关于白光干涉摩擦磨损三维形貌快速精准高效测量仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。