贝克曼库尔特公司推出了全新的LS13320XR激光衍射粒度分析仪,将粒度分析仪的性能提升到了一个新的水平。升级版的PIDS专利技术以及优化的132枚检测器,保证了仪器具有更高的分辨率、更准确的结果和更好的再现性。您可以测量更广泛范围的颗粒粒径,快速而可靠地检测到微小粒径之间的差异。新软件操作界面更加直观,只需点击几次即可获取所需数据。
LS13320XR激光衍射粒度分析仪是一款全自动、高准确性、高分辨率、高重现性的干湿两用粒度分析仪,采用全程Mie光散射理论并提供Fraunhofer理论模型。配备多种新型的样品进样模块,满足不同的分析要求,操作灵活便利。专利的PIDS技术真正实现了10nm粒径测量。直观的软件和触摸屏设计简化了仪器的操作。LS13320XR将为您带来全新的测量体验!
LS13320XR可实现高分辨率的检测,测量范围广泛,提供真实、高分辨率的测试数据。升级版的PIDS技术更好地解决了纳米级测量挑战,实现了亚微米级粒度分析。多峰样品可以自动检测,操作简单直观。
软件功能界面更直观易用,准确数据轻松获取。开始测量方法设定简单,轻松开始测量。仪器配备自检诊断功能,随时显示测量情况。自动合格/不合格管理能直接质控样品,快速了解样品质量情况。导航轮显示和导出数据方便快捷。
LS13320XR采用132枚检测器,保证高分辨率准确测量。X-D阵列检测器确保真实准确的粒度分布。多峰样品自动检测让您更放心。LS13320XR实现了亚微米级的测量,提供更高分辨率的粒度分析,能够准确检测至10nm的颗粒。PIDS专利技术确保了亚微米级颗粒粒径的准确测量。
LS13320XR是您粒度分析的最佳选择,为您带来准确、可靠的测量体验。
PIDS技术利用3种不同波长的光依次照射样品,首先是垂直偏振,然后是水平偏振,通过比较每种波长水平和垂直辐射光的差异,可以准确获取亚微米样品的粒度分布信息。
升级版PIDS专利技术在光源、滤波器和检测器方面都有全面升级,提高了测量亚微米颗粒的动态范围和分辨率。
LS13320XR粒度分析仪最大的改进是能够察觉到微小差异。LS13320XR采用先进的PIDS技术,提供出色的粒度分布数据,让您进行高分辨率的测量并扩展动态范围。
与LS13320相似,XR分析仪提供快速、精准的结果,简化工作流程带来最佳效率。
一些重大改进可让您更容易察觉到微小差异,而这些差异对粒度分析数据有重要影响。
直接测量范围为10nm–3,500µm,自动突出合格/不合格结果,实现更快速的质量控制。
增强版软件简化了标准测量方法的创建,全新的控制标准验证仪器/模块的性能。
LS13320XR功能发现微小差异,扩展测量范围:10nm–3,500µm。
激光衍射结合先进的偏振光强度差散射(PIDS)技术,实现高分辨率测量并报告10nm颗粒的真实数据。
可在单个样品中针对多种粒度提供准确可靠的检测,易于使用的ADAPT软件可自动进行合格/不合格检查,只需3步或更少
,预配置的方法即可呈现结果,简化专家和新手的仪器操作流程一步覆盖历史数据,用户诊断直观,随时提醒取样过程中的简化标准测量方法创建流程。
ADAPT软件符合《美国联邦法规》第21章第11部分的规定,可定制安全系统,满足多样化需求,提供4种不同的安全级别,高级别的安全配置符合《美国联邦法规》第21章第11部分的规定。
PIDS技术可以直接检测大小为10nm的颗粒,使用3种波长的光(450、600和900nm)以垂直和水平偏振光照射样品,通过多角度测量样品的散射光,每种波长的水平和垂直辐射光之间的差异提供了高分辨率的粒度分布数据。
激光衍射粒度分析仪贝克曼库尔特LS 13 320 XR,LS 13 320 XR
激光衍射粒度分析仪贝克曼库尔特LS 13 320 XR信息由贝克曼库尔特商贸(中国)有限公司为您提供,如您想了解更多关于 激光衍射粒度分析仪贝克曼库尔特LS 13 320 XR报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。