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X 射线荧光光谱 (XRF) 能够对多种材料进行元素分析,包括固体、液体和疏松粉末。 Zetium 光谱仪专为满足要求严苛的流程控制和研发应用需求而设计,其高品质的设计和功能,可对从铍到镅等多种元素进行精度范围从百万分之一以下到百分之一的分析。
Zetium 包含了 SumXcore 技术,它是 WDXRF 和 EDXRF 的集成。 这种功能组合使 Zetium 在多种环境下拥有高分析能力、速度和任务灵活性。
Zetium 配备了 SuperQ 软件(包括 Virtual Analyst),可帮助非专家用户轻松地设置应用程序。 针对特定分析提供了广泛的附加软件模块,例如无标分析、地质痕量元素、润滑油中的基体校正以及薄膜分析。
针对特定行业提供了 Zetium XRF 光谱仪行业专用版:水泥、矿物、金属、石化产品以及聚合物和塑料。另外提供可满足各行业严苛要求的高配置版本:Zetium顶级版。 Zetium 平台的模块化设计允许通过各种软件包来实现以任务为导向的性能增强。 马尔文帕纳科提供了一系列集成解决方案;从连接样品制备装置的简单接口,到将多个分析仪器集成到单一容器实验室中的全自动项目。
特点
从 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升级可增强灵敏度
一系列 X 射线光管阳极材料(铑、铬、钼和金)可确保发挥特定应用性能
用于增强灵敏度和加大过渡金属分析动态范围的复合探测器
用于扩大的重元素动态范围(线性高达 3.5 Mcps)的 HiPer 闪烁探测器特别适合对钢中的铌和钼进行高精度分析
Virtual Analyst 提供简洁、直观的软件
整套应用程序设置模块和软件解决方案
使用无标 XRF 分析,对未知材料进行分析,或者在没有标准的情况下进行分析
多元素微小区域分析
可编程的面罩,适合的样品尺寸为 6 mm 至 37 mm
SumXcore 技术 - 利用 ED core(能谱核)将测量时间缩短多达 50%
从 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升级可加快分析速度
Hi-Per 通道可实现对轻元素的同步测量
连续和直接进样可大大缩短仪器的进样时间
高容量进样器台(最多 209 位)可满足高处理量应用需求
进样器条形码阅读器选项可实现快速、无故障的样品装载和数据录入
除尘设备可尽量减少污染,并能够大大提升仪器的正常运行时间
用于提高 X 射线管耐用性和耐腐蚀性的 CHI-BLUE X 射线管窗涂层
样品类型识别(固体和液体)
条形码阅读器可实现无差错的样品数据录入
节省空间的紧凑型设计
小体积空气锁设计 - 用于将样品快速循环到真空中,或对液体分析实现低氦气消耗
便于检修的服务模块意味着更高的仪器可维修性和更短的停机时间
专用制冷机可从实验室带走热量 - 避免实验室空调基础设施负荷过重
可节省成本的成套解决方案
马尔文帕纳科X射线荧光光谱仪Zetium,Zetium
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JJG(教委) 016-1996 波长色散型X射线荧光光谱仪检定规程
AS 2563:1996(R2016) 波长色散X射线荧光光谱仪 精度测定
AS 2563:1996 波长色散X射线荧光光谱仪.精度测定
JB/T 11145-2011 X射线荧光光谱仪
ISO/TR 18231:2016 铁矿石. 波长色散X射线荧光光谱仪. 精度测定
JY/T 0569-2020 波长色散x射线荧光光谱方法通则
GSO ISO/TR 18231:2021 铁矿石 波长色散X射线荧光光谱仪 精密度测定
BH GSO ISO/TR 18231:2022 铁矿石 波长色散X射线荧光光谱仪 精密度测定
BS PD ISO/TR 18231:2016 铁矿石. 波长色散X射线荧光光谱仪. 精度的测定
PD ISO/TR 18231:2016 铁矿石 波长色散X射线荧光光谱仪 精密度测定
GB/Z 42358-2023 铁矿石 波长色散X射线荧光光谱仪 精度的测定
AS 2563:2019 铁矿石 波长色散X射线荧光光谱仪 精密度测定
JJF 2024-2023 能量色散X射线荧光光谱仪校准规范
GOST R 55080-2012 铸铁. X射线荧光光谱(XRF)分析法
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JJG(地质) 1006-1990 3080E型X射线荧光光谱仪检定规程
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