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HORIBA XGT-9000 X射线显微分析仪
参考价：面议
历史价格
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| 型号 | 品牌 | PIPES指数 |
|---|---|---|
| ARL PERFORM'X 顺序式 X 射线荧光光谱仪（WDXRF）（国产） | 赛默飞世尔科技 | 8.4 |
| MXF-N3 Plus | 岛津 | 8.3 |
| WDX 4000 | 天瑞仪器 | 8.3 |
参数
| 产地类别：进口 | 供应商性质：生产商 | 分析元素种类：单波长激发 11Na-92U |
| X射线光管功率：50W |
产品介绍
HORIBA XGT-9000 X射线显微分析仪
微区 X 射线荧光光谱技术革新，实现速度与灵活性兼备的优异性能
具备超高灵敏度，元素检测覆盖范围广搭载荧光 X 射线与透射 X 射线双类型探测器配备超高强度毛细管，可实现 ≥10μm 级的光斑尺寸检测采用高分辨率相机，支持多种照明模式软件界面用户友好，操作灵活便捷
超高灵敏度，元素检测覆盖范围广
XGT-9000 Pro 配备先进的新型检测系统，灵敏度更高，而 XGT-9000 Expert 则能提供超高的灵敏度与超宽的元素检测范围。灵敏度提升可缩短测量时间、提高工作效率，更宽元素检测范围可拓展应用可能性。
（左）铜强度对比（右）超轻元素强度对比
[1][2] 所有结果均通过将 XGT-9000 Pro/Expert 与 HORIBA 常规 X 射线荧光光谱仪各型号对比得出
多探头可选实现高质量宏观与微观成像
XGT-9000 系列性能卓越、灵活性强，这得益于精心设计的激发系统。它配备高输出X射线发生器，电压最高达 50 kV，电流最高达 1000 µA。探头光斑尺寸可在 10 微米至 1.2 毫米间灵活调节。仪器支持配置多个探头，通过软件就能轻松切换。这样既能保证大面积测绘的空间分辨率和测量效率，又能实现宏观与微观层面的高质量快速成像。此外，该系列还提供 15 微米和 100 微米两种超高强度探头供选配。
采用多探头对青金石进行元素层析成像
（左图）使用 100 微米超强强度探头进行快速扫描。（右图）使用 15 微米超强强度探头进行细节成像
配备荧光 X 射线与透射 X 射线双模式探测器
XGT-9000 系列支持双模式探测器：荧光 X 射线探测器能呈现样品元素分布；透射 X 射线探测器则可解析样品内部结构。设备能同步获取同区域中两种成像数据，有助于深入解析电子元器件、含包裹体的宝石标本及生物样品的微观特征。
印刷电路板元素成像与透射 X 射线同步成像
(Left)（左图）元素分层成像揭示集成电路芯片下方附着异物。（右图）透射 X 射线成像显示集成电路芯片下方存在大量空隙。
高分辨率卓越光学成像
获取清晰图像是微区 X 射线荧光分析的关键。XGT-9000 系列配备高分辨率相机系统，既能捕捉样本整体形貌，又能呈现微观尺度的精细结构。两种成像模式均支持数字缩放功能，可灵活调整样本表面最佳分析位置。此外，多照明系统的配置确保获得目标样本的高品质光学图像。
(左) 整体图像 (右) 局部细节
高分辨率苍蝇显微图像，光学细节清晰鲜明
可适用多种样品
XGT-9000 系列可应对各类样品，如微型碎片、印刷电路板、硬币、片材、粉末、液体及晶圆。可配备多种样品支架。此外，系统最多支持选择 4 种测量环境以提升检测灵敏度。
应用广泛的样品仓
界面友好、且操作灵活便捷的软件
XGT-9000 软件（HORIBA X-RAY LAB）界面灵活且友好。它能清晰显示数据、光学图像、光谱结果、元素周期表和图谱成像结果。得益于其灵活性，用户可以自定义屏幕布局。此外，分析结果能在多台显示器同步显示，帮助研究人员更清晰地查看结果，提升分析效率。检测结果可生成报告、打印或导出为 Excel、Word 和 PDF 格式。
XGT-9000 软件在双显示器上的布局示例
除标准软件功能外，还可添加高级模块，以提供更全面的用户体验。
用于含标准样品/非标准样品厚度测量的多层薄膜分析法模块
针对 RoHS 检测的环保合规筛选模块
无人值守模式下自动化批量测量的队列任务模块
用于颗粒分析及共定位分析的颗粒识别模块
用于将数据传输至 LabSpec 6 进行多元分析的数据传输模块
HORIBA X射线显微分析仪型号
型号 | XGT-9000 | ||
| XGT-9000 Pro | XGT-9000 Expert | XGT-9000 SL | |
基础信息 | |||
仪器设备 | X 射线荧光分析仪 | ||
| 原理 | 能量色散 X 射线荧光光谱分析 | ||
| 可检测元素* | F (9) - Am (95) | B (5) - Am (95) | F (9) - Am (95) |
| 有效样品室尺寸 | 450 mm (W) x 500 mm (D) x 80 mm (H) | mm1030mm(w) x 950mm(D) x 500 mm(H) | |
| 最大扫描区域 | 100 mm x 100 mm on 300 mm (W) x 250 mm (D) | 350mm x 350mm | |
样品观测 | |||
|---|---|---|---|
| 光学观测 | 两个高分辨率相机 | ||
| 整体图像 细节图像 | 5M像素，视场: 100 mm x 100 mm 5M像素，视场: 2.5 mm x 2.5 mm | 5M像素，视场: 350 mm x 350 mm 5M像素，视场: 2.5 mm x 2.5 mm | |
| 光学设计 | 垂直X射线和光学观测并同轴 | ||
| 样品照明/观察 | 顶部、底部和侧向照明/明场和暗场 | ||
X-ray 发生器 | |||
| 功率 | 最大 50 W | ||
| 管电压 | 最大 50 kV | ||
| 管电流 | 最大 1 mA | ||
| 靶材 | 铑（Rh） | ||
X 射线导管（X 射线头） | |||
| X射线头（束斑）选择 | 可提供多种X射线头组合 （例如15μm高强X射线头和100μm高强X射线头的组合） | ||
检测器 | |||
| 荧光X射线检测器 | 非液氮制冷硅漂移检测器（SDD） | ||
| 透射X射线检测器 | NaI (Tl) | ||
工作模式 | |||
| 样品检测环境 | 全真空 局部真空 大气 氦气净化（可选） | 全真空 局部真空 | 局部真空 大气 氦气净化（可选） |
仪器外形尺寸（主机） | |||
| 尺寸 | 680 mm (W) x 860 mm (D) x 760 mm (H) | 1090 mm (w) x 1380 mm(D) x 1820 mm(H) | |
| 质量 | 约 200 kg | 500 kg | |
*在全真空条件下
尺寸（单位：毫米）
HORIBA XGT-9000 X射线显微分析仪信息由HORIBA（中国）为您提供，如您想了解更多关于HORIBA XGT-9000 X射线显微分析仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
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