产品简介

电致发光测量系统NovaLum是东谱科技HiOE稳态综合光电特性测量平台中的重要成员，用于对电致发光样品的性能进行精确测量。该系统包括IVL测试、器件寿命测试、空间角度分布测试等功能，可以便捷、快速地得到电致发光器件全面的性能参数，如电致发光效率（电流效率、功率效率、外量子效率等）、光度学、色度学、稳定性、发光角度分布等相关性能参数。该设备很好地解决了行业上：（1）利用分光辐射度计测试时，存在低亮度测试速度慢、高亮度过曝的问题，从而不能用于易老化器件的测试，也不适宜用于宽亮度范围的器件测试；（2）利用积分球系统测试时，无法得到准确的前向亮度参数，且高亮度时也存在过曝问题，不能对强发光样品进行测试等的问题。

产品特点

□ 可以得到准确的亮度，因而适宜OLED、钙钛矿LED、量子点LED、显示屏等面光源的测量。

□ 配备自动化的角度分辨测试功能，可以快速得到样品发光的空间分布特性。

□ 配备了稳定性测试功能，进行老化测试，具有宽的亮度检测范围（<1cd/m^2 ~999900 cd/m^2 ）。

□ 可以进行各种环境的测试，如气体氛围、器件不封装转移测试等，同时可以实现手套箱内快速换样测试。

□ 配备自动对焦和观察、自动位移、自动子器件切换等系统，可以极大地提升测试效率。

产品功能

□ 多种扫描模式：电压扫描、电流扫描、角度扫描、时间扫描。 

□ 分段循环电流、电压扫描：可以研究器件的迟滞效应等。

□ 实时测量：可以实时单点测量，灵活判断器件的工作情况。 

□ 两线/四线测量：四线测量可更加准确地测量器件的电流电压。 

□ 自动切换器件：通过软件选择测量的子器件。

□ 自动积分时间：避免因为亮度过低导致测不出信号、或亮度过高导致的过曝的问题。

□ 配备可视化实时观察及位移系统：在软件中可以实时观察到器件的表面发光情况，可软件操作对焦。

□ 自动保存数据：测量过程中自动保存数据，避免数据丢失等状况。

规格参数

产品应用

□ 量子点发光二极管（QLED）

□ 有机发光二极管（OLED）

□ 发光二极管（LED）

□ 钙钛矿发光二极管（PeLED）

□ 其它各种类型的电致发光器件

测试样例

LED器件测试示例

显示屏测试示例

电致发光测量仪/IVL测试系统/器件寿命测试系统 NovaLum,NovaLum

电致发光测量仪/IVL测试系统/器件寿命测试系统 NovaLum信息由东谱科技（广州）有限责任公司为您提供，如您想了解更多关于电致发光测量仪/IVL测试系统/器件寿命测试系统 NovaLum报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。