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发布时间:2023年03月
最早于2012年为行业提供搭建式系统,并于2019年全新推出的业内首款自动化、集成化的飞行时间法迁移率测量商业化设备。
产品简介
FlyTOF飞行时间法迁移率测量仪是东谱科技HiTran瞬态综合光电特性测量平台中的重要成员。该系统利用飞行时间法(time-of-flight,TOF)测量半导体材料的迁移率以及相关的光电特性,广泛适用于各类半导体材料,如硅基半导体、第二代半导体、第三代宽带隙半导体、有机半导体、钙钛矿半导体、量子点半导体、二维材料半导体、金属-有机框架(MOF)、共价有机框架(COF)等。FlyTOF基于我司的MagicBox主机研制而成,配备便捷的上位机控制和数据测量软件,可助力客户进行快速、准确的测量。FlyTOF是东谱科技源头研发产品,是业内首款自动化、集成化的飞行时间法迁移率测试商业化设备。
迁移特性是半导体最为基础的性质之一,是半导体在电子学和光电子学等领域进行应用的基础。半导体的迁移率定义为单位电场下载流子的平均漂移速度。TOF迁移率测试方法直接由迁移率的定义发展而来。 相比于一些间接的迁移率测试方法,如空间电荷限制电流(SCLC)法等,TOF的方法被认为是最接近“真实”迁移率的一种测量方法。通过TOF瞬态光电流信号的分析,可以得到电子迁移率、空穴迁移率等参数;用户还可以利用这些数据,结合材料的物理模型进行分析,得到杂质浓度、缺陷、能带混乱度、电荷跳跃距离等参数。
作为TOF迁移率测试方法商业化应用的先行者,东谱科技已携手客户广泛探索了FlyTOF在有机半导体、硅基半导体、钙钛矿半导体、二维材料、共价有机框架等领域的应用。东谱期待与您共同开拓FlyTOF更多的应用领域。
产品特点
□ 载流子迁移率测量值覆盖10^-9~10^6 cm^2/(V.s)
□ 专业的信号调教,电磁兼容噪声小
□ 行业最先进的TOF测试功能
□ 软件自动控制,测试快速便捷
□ 快速换样装置,惰性气体氛围测试
□ 可实现宽温度范围的变温测试(选配)
□ 可通过可视化系统看到光斑照射情况
□ 可灵活耦合各种类型的激发光源
产品功能
□ 飞行时间法瞬态光电流测量
□ 半导体材料电子迁移率测量
□ 半导体材料空穴迁移率测量
□ 载流子浓度测量
□ 载流子寿命测量
□ 可选变温测量
□ 可选Lateral-TOF测试功能及附件
□ 可选配TOF二维扫描(mapping)功能及附件
功能说明:
标配TOF:纵向TOF;
Mapping功能:可以对TOF的信号进行二维平面的成像;
Lateral-TOF功能:可以以水平的方式对样品的迁移率进行测试。
产品应用
规格型号
* Lateral-TOF:
□ 包含显微系统、探针系统、针对Lateral-TOF的光路及电子部件系统等,具有非标性质,详情请与销售专员联系。
* 可选配置/部件:
□ 337nm 纳秒气体激光器;
□ 532nm纳秒调Q固体激光器;
□ 355 nm纳秒调Q固体激光器;
□ Nd:YAG激光器 1064 nm、532 nm、355 nm、266 nm;
□ 可调谐 OPO 激光器,波长范围:210-2400 nm。
测试样例
飞行时间法迁移率测量仪FlyTOF,FlyTOF
飞行时间法迁移率测量仪FlyTOF信息由东谱科技(广州)有限责任公司为您提供,如您想了解更多关于飞行时间法迁移率测量仪FlyTOF报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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