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发布时间:2024年02月
功率循环测试是一种功率半导体器件的可靠性测试方法,被列为AEC-Q101与AQG-324等车规级测试标准内的必测项目。与温度循环测试相比,功率循环是通过器件内部工作的芯片产生热量,使得器件达到既定的温度;而温度循环则是通过外部环境强制被测试器件达到测试温度。
简而言之,一个是运动发热,一个是高温中暑。
由于在功率循环测试中的被测试器件的发热部分集中在器件工作区域,其封装老化(aging)模式与正常工作下的器件相类似,故功率循环测试被认可为最接近于实际应用的功率器件可靠性测试而受到广泛的关注。
功率循环测试过程中,器件内部温度分布以及应力变化
功率循环测试台是用于功率器件进行功率循环测试的设备,其设计原理并不复杂。在试验台中,通过电流源供给负载电流给被测试器件,电流/电压探头实时监控被测试器件的电流/电压数据,控制器操控电流源实现负载电流按既定时间中断。设备整体的主要成本在电流源与控制器,设备的设计难度在于程序控制以及数据采集硬件。
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