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与观察体系合为一体在显微镜下观察整个样品处理过程和目标区域 将样品固定在样品悬臂上,在样品处理过程中,通过立体显微镜可对样品进行实时观察,观察角度0°至60°可调,或者调至 -30°,则可通过目镜标尺进行距离测量。Leica EMTXP 还带有明亮的环形LED光源照明,以便获得zei佳视觉观察效果。> 对微小目标区域进行精确定位和样品制备> 通过立体显微镜实现原位观察> 多功能化机械处理> 自动化样品处理过程控制> 可获得平如镜面的抛光效果> LED 环形光源亮度可调,4分割区段可选
为微尺度制样而生对毫米和微米尺度的微小目标进行定位、切割、研磨、抛光是一项具有挑战性的工作,主要困难来自:> 目标太小,不容易观察> 精确目标定位,或对目标进行角度校准很困难> 研磨、抛光到指定目标位置常需花费大量人力和时间> 微小目标极易丢失> 样品尺寸小,难以操作,往往不得不镶嵌包埋
一体化显微观察及成像系统Leica M80 立体显微镜> 平行光路设计:通过中央主物镜形成平行光路,焦平面一致> 高倍分辨率:所有变倍比下都有绝佳的图像质量和稳定的光强> 人体工学设计:使用舒适度zei佳,无肌肉紧张感和疲劳感Leica IC80 HD 高清摄像头*> 无缝设计:安装在光学头和双目筒之间,无需添加显像管或光电管> 高品质图像:与显微镜共轴光路确保图像质量及获得无反光图像> 提供动态高清图像,连接或断开计算机均可使用4 分割区段亮度可调 LED 环形光源> 不同角度照明显露样品微小细节
多种方式制备处理样品样品无需转移,只需切换工具不需要来回转移样品,只需要简单地更换处理样品的工具就可完成样品处理过程,并且样品处理全过程都可通过显微镜进行实时观察。出于安全考虑,工具和样品所在的工作室带有一个透明的安全罩,可避免在样品处理过程中操作者不小心触碰到运转部件,又可防止碎屑飞溅。LEICA EM TXP可对样品进行如下处理:> 铣削> 切割> 研磨> 抛光> 冲钻
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