[产品简介] 蔡司X射线显微镜Xradia515Versa，通过突破性技术和高分辨率探测器，提升了3DX射线显微镜(XRM)的性能，为各种尺寸的样品提供了亚微米级成像解决方案。 该系统保持了先进的大样品高分辨率技术优势，可实现高达500nm的空间分辨率。通过使用更高分辨率的光学元件，实现了分辨率的改善和突破。同时，加入了更多智能的元素，并具有更广阔的拓展能力。此外，Xradia515Versa系统还可进行扩展和升级，包括原位接口、4D原位试验平台、迭代重构、自动进样装置、平板探测器等多个拓展模块。 结合蔡司Xradia平台的灵活性和稳定性，该产品拥有无与伦比的多功能、多应用领域特点，能够快速提供分析成果，为您的研究工作带来便利。 [产品特点] ü 三维无损成像 ü 500nm真实空间分辨率 ü 独特的大工作距离下高分辨率，可实现不同类型、尺寸和类型样品多尺度成像 ü 吸收、相位衬度成像模式 ü 智能防撞系统，让您的设置更简单、更智能 ü 4D原位成像能力 ü 可升级、拓展和可靠性 [应用领域] ü 材料科学，如金属、陶瓷、高分子、混凝土等三维无损分析 ü 生命科学，如微观结构三维成像 ü 地球科学，如地质、油气、矿产、古生物等三维成像 ü 电子和半导体行业，如形貌测量及失效分析 ü 原位力学、变温试验
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