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锂离子电池性能优良,已经广泛应用于小型电子产品中,在电动汽车和混合电动汽车领域以及储能领域也在不断发展中,这对保持环
对高性能、高能效电子产品的需求正在推动具有更小、更密集的功能和复杂的3D结构的先进设备的发展。这些尖端微处理器、存储器件和其他产品的产能生产极具挑战性,需要对深埋在器件内部的特征进行高分辨率、原子级分析。透射电子显微镜(TEM)正日益成为这种分析的首选技术,并依赖于通过聚焦离子束(FIB)铣削生产的高质量样品。
赛默飞世尔科技Helios 5 EXL DualBeam是一款300mm全晶圆聚焦离子束扫描电子显微镜(FIB-SEM),旨在解决半导体行业中的TEM样品制备挑战。Helios 5 EXL DualBeam能够为当今最先进的工艺节点制备样品,包括亚5nm和门全方位技术。
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