Agilent 5800 ICP-OES_应用_厂商报价_参数_仪器谱

Agilent 5800 ICP-OES

Agilent 5800 ICP-OES 仪器是一款专为业务繁忙的实验室而设计的光谱仪，旨在帮助实验室夺回浪费的时间。凭借功能强大的 ICP-OES 软件以及包含众多内置传感器、智能算法和诊断功能的智能化监控体系，您可以在故障发生之前发现问题，从而最大程度延长正常运行时间并最大程度减少需要重新测定的样品数量。

我要咨询

视频

自动 SPME Arrow 水中 SVOC 预警监测解决方案

助您成为SVOC预警监测先锋

自动水中异味化合物解决方案

自动GB/T32470GC/MS方法分析；自动多异味化合物GC/MS/MS分析

自动液液萃取GC/MS分析水中SVOC解决方案

助您成为预警和应急先锋

相关新闻

【安捷伦】想做好矿冶材料元素分析，这场网络研讨会记得听！

关注“安捷伦视界”公众号，获取更多资讯。

L 2020-05-18

相关资料

ICP-OES 电子书下载—如何避免浪费时间的重复测量

很多原因都可能导致您不得不二次测量样品。测量过程中可能发生样品混淆或其他问题。您可能只有在 QC 溶液分析失败或者检查结果并注意到异常时才会发现问题。无论出于何种原因，重新测量样品都非常费时、令人倍感压力且成本高昂。必须重新测量样品的原因通常分为两类：仪器相关问题和样品相关问题。样品相关问题包括从样品消解和前处理到样品基质问题和样品混淆的各种问题。本文介绍了如何避免其中常见的问题及如何应对，从

L 2020-02-12

安捷伦半导体无机元素分析概览

ICP-MS 作为一种金属元素分析仪器应用于半导体产业链，始于 20 世纪 80 年代。随着半导体制程的不断迭代，整个行业对 ICP-MS 的性能提出了越来越高的要求。过去 30 年来，位于日本东京的安捷伦 ICP-MS 全球研发中心与半导体产业链端客户密切合作，引领着 ICP-MS 在全球半导体产业链中的应用不断创新。

L 2022-07-01

使用 ICP-OES 测定金属样品中的硅元素

本文介绍了一种使用 ICP-OES 测定金属样品基体中，氢氟酸介质下硅元素的方法，采用了安捷伦无硅涂层的耐氢氟酸进样系统，克服了常规 ICP-OES 分析氢氟酸介质空白值高的缺点，获得了较低的空白值，适合于测定多种金属基体中不同含量范围的硅元素。

L 2022-07-01

使用 ICP-OES 测定磷酸铁锂 (LiFePO4 ) 正极材料中的常量元素

本文介绍了一种使用 ICP-OES 准确测定磷酸铁锂正极材料中 Li、Fe 和 P 元素的方法。该方法具有出色的准确度和精密度，满足常量分析要求，且分析速度和效率优于传统化学分析方法。

L 2022-07-01

使用 Agilent 5800 VDV ICP-OES 分析工业废物样品

安捷伦的 IntelliQuant 功能可自动识别可能的光谱干扰和未知元素，为样品组成提供有价值的见解。IntelliQuant 可在数秒钟内完成样品中多达 70 种元素的鉴定。可以过滤结果数据，仅显示感兴趣的结果（元素）。在本研究中，通过对工业废物 NIST SRM 2782 的分析，验证了仪器的性能。获得的回收率在 ±10% 范围内。

L 2021-10-26

使用 Agilent 5800 ICP-OES 分析细胞培养液中的有机硅消泡剂

本研究使用 Agilent 5800 ICP-OES 对细胞培养液样品中的有机硅消泡剂进行测定。采用该方法将单个样品平行测定 3 次，时间短于 1 分钟，极大提升了样品通量；并具有实现在线实时监测的潜力；实际样品加标回收率均在 90% 左右；且整个体系不存在样品残留等问题；无需经过色谱分离，快速简便。非常适合用于生物制药行业中。

L 2021-10-26

使用 IntelliQuant Screening 简化 DTPA提取土壤样品的方法开发

根据中国 HJ-804 方法配制分析用土壤样品。采用配备 AVS 6 切换阀系统和 SPS 4 自动进样器的 Agilent 5800 VDV ICP-OES，对 DTPA 提取土壤样品中的 8 种生物可利用元素进行了测量。借助于 Agilent ICP Expert 软件的 IntelliQuant Screening 等功能进行方法开发。该方法提供高质量的分

L 2021-01-22

使用 Agilent 5800 VDV ICP-OES 分析工业废物样品

中国 HJ 781-2015 方法概括了采用四酸微波消解法进行样品前处理的固体废物样品中 22 种元素的测定程序。这种复杂样品消解物中通常包含方法的非靶向元素。如果不考虑这些额外元素（通常是未知元素）的存在，则可能导致光谱干扰。光谱干扰可能导致结果错误并迫使样品重新测量，从而造成时间浪费。安捷伦的 IntelliQuant 功能可自动识别可能的光谱干扰和未知元素,为样品组成

L 2021-01-14

ICP-OES电子书如何避免浪费时间的重复测量

您是否需要对ICP-OES样品进行多次重复测量？ICP-OES使用中，需要重新测量的常见问题有哪些？如何避免这些问题？ICP-OES电子书帮您解决

L 2020-08-31

利用适应性强的垂直炬管减少清洁需求、缩短停机时间、降低更换频率，轻松应对复杂样品

使用 ICP-OES 分析样品时，需要考虑的一个主要问题是样品中总溶解态固体 (TDS)的含量。许多常见样品中含有高浓度的 TDS，例如环境实验室常分析的土壤、污泥和盐溶液等样品，以及矿物、采矿和土壤实验室日常分析的各种酸消解液和熔融物等。样品中的 TDS 含量通常决定了使用哪种 ICP-OES 仪器进行分析。一般来说，分析TDS 含量不超过 3% 的样品时，通常会使用配备水平炬管的 ICP-OE

L 2020-08-06

使用IntelliQuant Screening简化DTPA提取土壤样品的方法开发

根据中国 HJ-804 方法配制分析用土壤样品。采用配备 AVS 6 切换阀系统和 SPS 4 自动进样器的 Agilent 5800 VDV ICP-OES，对 DTPA 提取土壤样品中的 8 种生物可利用元素进行了测量。借助于 Agilent ICP Expert 软件的 IntelliQuant Screening 等功能进行方法开发。该方法提供高质量的分析结果，并最大程度减少不得不进行的

L 2019-12-17