• 分析测试百科网|
  • 仪器谱|
  • 新品发布厅
申请发布 申请发布 微信分享 微信分享
分享
二维码
仪器介绍____ 视频____ 相关新闻____ 相关资料____ TOP

Agilent 5800 ICP-OES

Agilent 5800 ICP-OES 仪器是一款专为业务繁忙的实验室而设计的光谱仪,旨在帮助实验室夺回浪费的时间。凭借功能强大的 ICP-OES 软件以及包含众多内置传感器、智能算法和诊断功能的智能化监控体系,您可以在故障发生之前发现问题,从而最大程度延长正常运行时间并最大程度减少需要重新测定的样品数量。

我要咨询
视频

自动 SPME Arrow 水中 SVOC 预警监测解决方案

助您成为SVOC预警监测先锋

自动水中异味化合物解决方案

自动GB/T32470GC/MS方法分析 ;自动多异味化合物GC/MS/MS分析

自动液液萃取GC/MS分析水中SVOC解决方案

助您成为预警和应急先锋

相关新闻

自动化、人工智能,我们谈了很久,浮出水面的有哪些?

L 2024-02-19

2377通电话,62个关键词,安捷伦2023年用户年终总结之ICP-OES篇

早在公司成立之初,为了方便客户咨询仪器使用过程中遇到的问题,安捷伦便设立了用户免费服务电话 400-820-3278/800-820-3278,并为每个产品线都配备了专业的工程师,以便在线及时响应用户的咨询。我们 2023 年度通过 800 热线 4 号专线在线处理了共计 2377 条来自全国原子光谱用户的电话咨询,这一数据同比增长了 68%。经过认真梳理用户的咨询内容后,我们筛选出 62 个主要

L 2024-01-10

“胖五”冲天了 这项用航天领域的超牛技术你可能还不了解

12 月 27 日,长征五号遥三运载火箭(由于体型宽大,又被大家亲切地称呼为“胖五”)在文昌航天发射场发射升空,标志着我国航天技术再上新的台阶。 航天及空间观测领域是“高、精、尖”光学技术应用最为广泛、深入的领域。遥感技术、激光技术、空间望远镜等技术或设备对高精度光学元件有着旺盛的需求,传统研磨或抛光技术很难满足高精度光学元件的制作要求,而磁流变抛光技术(MRF)很好地解决了这个问题。 MRF

L 2020-08-21

【安捷伦】想做好矿冶材料元素分析,这场网络研讨会记得听!

关注“安捷伦视界”公众号,获取更多资讯。

L 2020-05-18

2019北京光谱年会——人工智能与光谱的结合

分析测试百科网讯 2020年1月7日,由北京理化分析测试技术学会光谱分会主办的2019年北京光谱年会在北京天文馆如期举办。此次会议旨在围绕拉曼光谱、原子发射光谱和光谱计算等光谱方法和应用进行学术交流,同时会议邀请了诸多领域专家亲临现场并发表多篇精彩报告。分析测试百科网作为此次会议的支持媒体,全程跟踪报道。会议现场北京理化分析测试技术学会副理事长光谱分会理事长孙素琴教授 北京理化分析测试技术学会副

L 2020-01-07

安捷伦科技携5800 ICP-OES闪耀第二届原子光谱学术研讨会

2019年12月11日,由中国仪器仪表学会分析仪器分会、分析测试百科网联合主办,海南大学分析测试中心协办的第二届原子光谱应用与技术学术研讨会在海南大学国际交流中心举办。近200名代表参加这次原子光谱学术盛会。本次会议特别邀请到国内知名原子光谱专家、学者作主题报告,分析讨论原子光谱研究、应用及相关技术的创新与发展。会议现场安捷伦原子光谱应用专家冯文坤 安捷伦科技携5800 ICP-OES等原子光谱

L 2019-12-12

追光之路丨安捷伦光谱再结硕果 记5800 ICP-OES首发

分析测试百科网讯 伴随着第十八届北京分析测试学术报告会暨展览会(BCEIA 2019)的开幕,安捷伦科技在北京国家会议中心召开了“引领创新之路——安捷伦光谱全球新品5800 ICP-OES发布会”。安捷伦副总裁 光谱及真空产品总经理Philip Binns携企业高层,清华大学分析中心邢志老师、北京矿冶研究总院测试研究所冯先进研究员作为邀请嘉宾出席此次发布会。分析测试百科网作为支持媒体为您带来全程

L 2019-11-05
相关资料

5800和5900 用户维护手册

5800和5900 用户维护手册

L 2024-06-26

Agilent 5800 和 5900 ICP-OES 光谱仪

Agilent 5800 和 5900 ICP-OES 光谱仪本宣传单页介绍仪器如何以智能的方式在提高分析效率的同时降低降低使用维护成本

L 2024-06-26

ICP-OES 电子书下载—如何避免浪费时间的重复测量

很多原因都可能导致您不得不二次测量样品。测量过程中可能发生样品混淆或其他问题。您可能只有在 QC 溶液分析失败或者检查结果并注意到异常时才会发现问题。无论出于何种原因,重新测量样品都非常费时、令人倍感压力且成本高昂。 必须重新测量样品的原因通常分为两类:仪器相关问题和样品相关问题。样品相关问题包括从样品消解和前处理到样品基质问题和样品混淆的各种问题。 本文介绍了如何避免其中常见的问题及如何应对,从

L 2020-02-12

稀土检测专栏丨钕铁硼样品稀土杂质元素 ICP-MS 方案

上期,安捷伦特别介绍了钕铁硼合金中 5800 ICP-OES 测定稀土杂质元素的方案,采用电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)分析稀土元素虽具有更低的检测限(~ng/L),但是部分稀土元素存在氧化物/氢氧化物质谱重叠干扰问题,比如,在钕铁硼样品中 143Nd16O 干扰 159Tb,146Nd16O1H 干扰 163Dy,148Nd16O1H 干扰 165

L 2025-12-23

半导体光刻胶国产化进程

目前,我国集成电路用半导体光刻胶尤其是高端产品仍高度依赖进口。高端半导体光刻胶对于实现中国半导体产业链的安全自主可控至关重要。高端光刻胶的国产替代已成为整个行业的迫切需求和重点支持的核心项目。但半导体光刻胶的研发和生产存在着技术门槛高、保密性强的特点,并涉及复杂的化学合成和纯化、配方调配和质量控制等多个生产环节。其中,从半导体光刻胶的组分原料到成品的表征及杂质分析均对高端光刻胶的研发有着重要的指导

L 2024-09-10

使用 Agilent 5800 ICP-OES 快速测定 钠离子电池用六氟磷酸钠中的多种 杂质元素

使用 Agilent 5800 ICP-OES 快速测定 钠离子电池用六氟磷酸钠中的多种 杂质元素摘要 本文介绍了一种使用 Agilent 5800 电感耦合等离子体发射光谱仪 (ICP-OES) 分析钠离子电 池用六氟磷酸钠 (NaPF6) 中多种杂质元素的方法。对该方法的线性范围、灵敏度、准确 度、稳定性进行了考察,并对实际样品进行了检测。结果表明,该方法具有良好的准确 度,加标回收

L 2024-06-26

安捷伦半导体无机元素分析概览

ICP-MS 作为一种金属元素分析仪器应用于半导体产业链,始于 20 世纪 80 年代。随着半导体制程的不断迭代,整个行业对 ICP-MS 的性能提出了越来越高的要求。过去 30 年来,位于日本东京的安捷伦 ICP-MS 全球研发中心与半导体产业链端客户密切合作,引领着 ICP-MS 在全球半导体产业链中的应用不断创新。

L 2022-07-01

使用 ICP-OES 测定金属样品中的硅元素

本文介绍了一种使用 ICP-OES 测定金属样品基体中,氢氟酸介质下硅元素的方法,采用了安捷伦无硅涂层的耐氢氟酸进样系统,克服了常规 ICP-OES 分析氢氟酸介质空白值高的缺点,获得了较低的空白值,适合于测定多种金属基体中不同含量范围的硅元素。

L 2022-07-01

使用 ICP-OES 测定磷酸铁锂 (LiFePO4 ) 正极材料中的常量元素

本文介绍了一种使用 ICP-OES 准确测定磷酸铁锂正极材料中 Li、Fe 和 P 元素的方法。该方法具有出色的准确度和精密度,满足常量分析要求,且分析速度和效率优于传统化学分析方法。

L 2022-07-01

使用 Agilent 5800 VDV ICP-OES 分析工业废物样品

安捷伦的 IntelliQuant 功能可自动识别可能的光谱干扰和未知元素,为样品组成提供有价值的见解。IntelliQuant 可在数秒钟内完成样品中多达 70 种元素的鉴定。可以过滤结果数据,仅显示感兴趣的结果(元素)。在本研究中,通过对工业废物 NIST SRM 2782 的分析,验证了仪器的性能。获得的回收率在 ±10% 范围内。

L 2021-10-26

使用 Agilent 5800 ICP-OES 分析细胞培养液中的有机硅消泡剂

本研究使用 Agilent 5800 ICP-OES 对细胞培养液样品中的有机硅消泡剂进行测定。采用该方法将单个样品平行测定 3 次,时间短于 1 分钟,极大提升了样品通量;并具有实现在线实时监测的潜力;实际样品加标回收率均在 90% 左右;且整个体系不存在样品残留等问题;无需经过色谱分离,快速简便。非常适合用于生物制药行业中。

L 2021-10-26

使用 IntelliQuant Screening 简化 DTPA提取土壤样品的方法开发

根据中国  HJ-804 方法配制分析用土壤样品。采用配备 AVS 6 切换阀系统和 SPS 4 自动进样器的 Agilent 5800 VDV ICP-OES,对  DTPA 提取土壤样品中的 8 种生物可利用元素进行了测量。借助于 Agilent ICP Expert 软件的 IntelliQuant  Screening 等功能进行方法开发。该方法提供高质量的分

L 2021-01-22

使用 Agilent 5800 VDV ICP-OES 分析工业废物样品

中国 HJ  781-2015 方法概括了采用四酸微波消解法进行样品前处理的固体废物样品中 22  种元素的测定程序。这种复杂样品消解物中通常包含方法的非靶向元素。如果不考虑这些额外元素(通常是未知元素)的存在,则可能导致光谱干扰。光谱干扰可能导致结果错误并迫使样品重新测量,从而造成时间浪费。安捷伦的 IntelliQuant 功能可自动识别可能的光谱干扰和未知元素,为样品组成

L 2021-01-14

Copyright © 2007 ANTPedia, All Rights Reserved | 京ICP备07018254号