JP500 高精度X射线荧光元素分析仪

高精度X射线荧光元素分析仪

三元前驱体多元素分析

PRODUCT INFORMATION

产品介绍

◆  JP500仪器可以针对各种类型的矿物粉末及矿物浸提液体中多种元素进行高精度分析，可高效快速进行矿样品质评价。

◆  对各种类型的矿物通过基本参数法对基体进行校正，样品直接检测即可得到高精度的测试结果，与实验室测试结果高度一致。

◆  快速分析矿物中镍、铁、硫、钴、锰等40余种元素含量。

◆  内置多条曲线，FP（基本参数）计算方法、可针对不同基体分析

◆  针对材料中微量元素、主量元素进行准确定量分析；应用于不同形态的硫酸钴、硫酸锰、硫酸镍等样品分析，如液体、固体粉末等。

JP500仪器主要用于液体、固体粉末的准确定量分析，在新能源材料领域可应用于多个生产工艺环节过程控制。

产品特点

◆  五分钟内可得到样品中目标元素准确结果。

◆  先进的单波长激发技术及软件算法，大幅提高检测精度、减少测试误差。

◆  采用嵌入式系统，高分辨率液晶显示触摸屏，结合数字多道技术，有效提升数据传输和运算能力。

◆  电池新材料生产工艺过程中溶液元素成分的快速和实时监测，及时掌握溶液关键元素和杂质元素的含量变化情况，保证生产质量受控。

◆  电池新材料行业精矿原料中元素成分的快速准确监测，及时获取原料的品质参数信息。

◆  新材料三元前驱体的快速准确定量检测，确保产品质量。

◆  数据导出专业、全面、可进行Excel编辑。

◆  强大的数据存储能力，能够连续存储至少10000次检测记录。

◆  支持蓝牙打印功能、支持4G、5G远程数据传输。

◆  仪器有自动保护功能，当进样舱开启时，可自动断开。

分析曲线图

硫酸钴溶液中相关元素拟合标准曲线

重复性测试

同一个三元前驱体NCM样品粉末，装样4次，每次装样重复检测5次，每次检测时间5min。同一次装样5次重复误差≤0.1%，同一个三元前驱体四次装样平均值误差≤0.4%。

多元素应用

JP500满足高浓度硫酸钴溶液中Si S Cl K  Ca  Cr  Mn  Fe  Cu  Zn  Ni  As  Pb等元素的高精度定量检测，适用于镍、钴、锰原料矿样和三元前驱体粉末快速准确检测。

检出限

技术参数

电源          110-240 VAC，50-60 Hz

检材          液体、固体粉末等

测量方法高精度X射线荧光光谱法HDXRF

测量范围   铁、锰、铜、锌、硅、磷等40余种元素

晶体          DCC（双曲面弯晶）晶体实现激发X射线单色化聚焦，优化提高元素检出限和定量精度

电子元件      处理器不低于1.2GB四核处理器 64位、1GB RAM；4096道高性能MCA；自主开发数据分析系统；

探测器      高效快速硅漂移Fast SDD 探测器

光学系统   HDXRF技术构架下的单色聚焦系统

工作温度    -5 °C~50 °C

环境湿度    相对湿度≤70%

语言         中/英文语言切换

重量           ≤9Kg

尺寸           32.5ｃｍW*32.2ｃｍL*26ｃｍH

# 苏州佳谱科技有限公司 #

苏州佳谱科技有限公司作为X射线荧光元素分析仪前沿技术创新型企业，生产设计的高精度X射线荧光元素分析仪广泛应用于土壤调查、水质监测、农产品加工筛查、食品安全监测、地质矿冶和工业在线监测等应用领域。

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