徕卡EM TIC 3X可以灵活选择多种样品台,不仅适用于高通量实验,也适合于特定制样需求实验室。依据您具体需求,每一台徕卡 EM TIC 3X都可装配多种可切换样品台,如标准样品台,三样品台,旋转样品台或冷冻样品台,应用于常规样品制备,高通量样品制备,以及某些高分子聚合物,橡胶或生物材料等温度敏感样品制备。其与徕卡 EM VCT环境传输系统相连接,可以实现将冷冻的生物样品表面受保护地被真空冷冻传输进入镀膜仪或冷冻扫描电镜[Cryo-SEM)中,或者应用于地
徕卡Leica EM TIC 3X可通过离子束侧面轰击样品,获得高质量无应力“切割”截面,以便于SEM观察,及EDX或EBSD等分析。并可对样品进行离子束平面抛光,抛光面积达25mm。Leica EM TIC 3X适用于多层膜材料、软硬复合材料,金属、陶瓷、地质等各种材料。Leica EM TIC 3X操作简单,不需要摸索条件即可获得理想的样品截面,使样品暴露内部细微结构信息。