MAXIM二次离子/溅射中性粒子质谱仪(Hiden)

MAXIM 二次离子溅射中性粒子质谱仪可分析二次阴、阳离子动态和中性粒子，所具备的的30°接受角可形成样品粒子平面，应用于SIMS和SNMS的光学采样。

特点

·光栅控制，增强深度分析能力
·所有能量范围内，离子行程的最小扰动，及恒定离子传输
·灵敏度高 / 稳定的脉冲离子计数检测器

参数

·质量数范围： 300amu，500amu，1000amu

·检测器： 离子计数探测器、正负离子探测器、10⁷ cps

·质量过滤器： 3F四级杆

·杆直径： 9mm

·最高加热： 250℃

·离子源： 电子轰击，可用于SNMS和RGA的单根灯丝

MAXIM二次离子/溅射中性粒子质谱仪,MAXIM

MAXIM二次离子/溅射中性粒子质谱仪信息由北京英格海德分析技术有限公司为您提供，如您想了解更多关于MAXIM二次离子/溅射中性粒子质谱仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。