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产品简介
通过MEMS芯片在原位样品台内构建力、电复合多场自动控制及反馈测量系统,结合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多种不同模式,实现从纳米层面实时、动态监测样品在真空环境下随电场、施加力变化产生的微观结构演化、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的结构和成分演化等关键信息。
我们的优势
领先的力学能力
1.高精度压电陶瓷驱动,纳米级别精度数字化精确定位。
2.业界领先的nN级力学测量噪音。
3.具备连续的载荷-位移-时间数据实时自动收集功能。
4.具备恒定载荷、恒定位移、循环加载控制功能,适用于材料的蠕变特性、应力松弛、疲劳性能研究。
优异的电学性能
1.芯片表面的保护性涂层保证电学测量的低噪音和精确性,电流测量精度可达pA级。
2.MEMS微加工特殊设计,电场和力学加载同时进行,相互独立控制。
智能化软件
1.人机分离,软件远程控制纳米探针运动。
2.自动测量载荷-位移数据。
技术参数
透射电镜力电原位系统,CNT-GNIB
透射电镜力电原位系统信息由厦门超新芯科技有限公司为您提供,如您想了解更多关于透射电镜力电原位系统报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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