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产品简介
PGS/PGM 200光谱仪凭借优异的消像差设计,可实现一机两用,配合单通道探测器作为单色仪,配合CCD使用作为摄谱仪。光路由一片平面光栅和一片超环面镜组成,为极紫外光谱分析优化设计。掠入射光路设计将可探测波长拓展到4nm,与此同时,摄谱仪模式下焦平面垂直于出射光轴,使CCD上接受的光通量大化。 技术特点 HJY专利的消像差平面光栅结合超环面镜,同时兼顾高分辨率和低像差。 在轴设计,光路易准直。 出射光直射CCD表面,光通量大。 只需更换出射狭缝和法兰,即可实现单色仪和摄谱仪之间的切换,一机两用。 支持超高真空10-9mbar,可接入同步辐射装置。
典型应用 X射线光电子能谱 等离子体物理研究 高次谐波滤波 极紫外反射 EUV光源表征
技术指标
三块标准光栅可选
54401010
1800 gr/mm 光栅,摄谱仪模式下
光谱范围:4-16.5nm (75-310eV) 或 4-26nm (47-310eV)
出射端口色散:0.4-0.68nm/mm
分辨率:0.2nm
54402010
800 gr/mm光栅,摄谱仪模式下
光谱范围:10-35 nm (35–124eV) 或10-56nm (22-124eV)
出射端口色散:1.0 – 1.14m/mm
分辨率:0.3nm
54406010
450 gr/mm光栅,摄谱仪模式下
光谱范围:16-65 nm (7–80eV) 或
16-103nm (12-77eV)
出射端口色散:1.7–2.7m/mm
分辨率:0.5nm
光学设计
HJY专利平面光栅加超环面镜光路设计
焦长
200 mm
孔径
f/17
分辨率
低至0.2nm
波长驱动
步进电机
高真空
10-6 mbar
真空泵法兰
DN63 LF
狭缝
测微狭缝
阵列探测器法兰
DN100CF/ICF152
可选项
自动或固定
超高真空
10-9 mbar,配备DN100CF真空泵法兰和DN40CF真空计接口
单色仪模式下测得的30.4nm 氦谱线
附件 前镜腔,配备两块超环面镜,实现光源和单色仪之间的光学匹配 后镜腔,配备两块超环面镜,实现单色仪和样品室之间的光学匹配 样品室,可搭载4块直径不大于25mm的样品 偏振插片 制冷机,低至4K 真空泵
PGS/PGM 200真空紫外光谱仪,PGS/PGM 200
PGS/PGM 200真空紫外光谱仪信息由HORIBA科学仪器事业部为您提供,如您想了解更多关于PGS/PGM 200真空紫外光谱仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
JB/T 9320-1999 平面光栅摄谱仪
GB/T 25481-2010 在线紫外/可见分光光谱分析仪
T/ZZB 0673-2018 直读光谱仪
DZ/T 0121.8-1994 地质仪器术语 地质物探资料数据处理设备术语
GB/T 13962-1992 光学仪器术语
JJG(教委) 022-1996 紫外和可见吸收光谱仪检定规程
YY 91060-1999 生化仪器名词术语.紫外可见光吸收光谱法
WJ 2300-1995 平面光栅摄谱仪检定规程
GB/T 8322-1987 分子吸收光谱法术语
CNS 14341-1999 光谱分析仪
JB/T 9322-1999 光谱投影仪
JJG 768-2005 发射光谱仪
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