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产品简介:独特宽场三离子束,以垂直于样品侧面纵向轰击样品,实现高质量无应力“切割”截面,几乎适用于各种材料。还可对样品进行离子束抛光处理。产品介绍:可复制的结果Leica EM TIC 3X 三离子束切割仪可制备横切面和抛光表面,用于扫描电子显微镜 (SEM)、微观结构分析 (EDS、WDS、Auger、EBSD) 和 AFM 科研工作。使用 Leica EM TIX 3X,您几乎可以在室温或冷冻条件下,对任何材料实现高品质的表面处理,尽可能显示样品近自然状态下的内部结构。带来前所未有的便利!对于离子研磨仪的效率来说,真正重要的是同时具备出色的品质结果和高产量。与前代版本相比,全新版本不仅切割速度提高了一倍,其独特的三离子束系统还优化了制备质量,并缩短了工作时间。一次可处理样品多达 3 个, 并可在同一个载物台上进行横切和抛光。工作流程解决方案可安全、高效地将样品传输至后续的制备仪器或分析系统。灵活的系统 — 随时满足您的需求凭借可灵活选择的载物台,Leica EM TIC 3X 不仅是进行高产量处理的理想设备,还适用于委托检测的实验室。根据您的需求,可选择以下可互换的载物台对 Leica EM TIC 3X 进行个性化配置:
标准载物台
多样品载物台
旋转载物台
冷却载物台
真空冷传输对接台
用于制备标准样品、高产品处理,以及在低温条件下制备对高温异常敏感的样品,例如聚合物、橡胶或生物材料。环境控制型工作流程解决方案凭借与 Leica EM TIC 3X 配套的 VCT 对接台接口,可为易受环境影响的样品和/或低温样品提供出色的刨平工作流程,此类样品包括•生物材料•地质材料•工业材料。随后,这些样品会在惰性气体/真空/冷冻条件下,被传输至我们的镀膜系统 EM ACE600 或 EM ACE900 和/或 SEM 系统。
德国徕卡离子研磨仪 EM TIC 3X,Leica EM TIC 3X
德国徕卡离子研磨仪 EM TIC 3X信息由徕卡显微系统(上海)贸易有限公司为您提供,如您想了解更多关于德国徕卡离子研磨仪 EM TIC 3X报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
如今,离子束蚀刻技术是应用最广泛的电子显微镜样品制备方 法。在蚀刻过程中,高能氩离子束轰击样品,并根据其应用领域 调整 离子束能量和切割角度。 在制备扫描电子显微镜样品时,离子束蚀刻可改善或修改样品 表面质量。 首先,离子束刻蚀能够清洁、抛光或增加表面的衬度。经离子束 处理的样品表面足以适用于各种灵敏的表面性能测试方法(如 EBSD)。 另外,离子束刻蚀也可以通过斜面切割制备样品的横截面。 徕卡EM TIC 3X是一款离子束研磨仪,用于制备扫描电子显微镜
为透射电镜/扫描电镜/生命科学/工业材料样品提高样品制备全套解决方案.徕卡纳米技术部提供:超薄切片,组织处理,高压冷冻,镀膜,临界点干燥,机械研磨抛光,离子束研磨,冷冻断裂/复型及真空环境传输等各类技术手段,适用于TEM/SEM/FIB/LM/AFM样品制备。
徕卡Leica EM TIC 3X可通过离子束侧面轰击样品,获得高质量无应力“切割”截面,以便于SEM观察,及EDX或EBSD等分析。并可对样品进行离子束平面抛光,抛光面积达25mm。Leica EM TIC 3X适用于多层膜材料、软硬复合材料,金属、陶瓷、地质等各种材料。Leica EM TIC 3X操作简单,不需要摸索条件即可获得理想的样品截面,使样品暴露内部细微结构信息。
LEICA EM TIC 3X 三离子束研磨仪您是否需要制备硬的,软的,多孔,热敏感。脑性和/或非均质多相复合型材料.获得高质量样品表面,以适宜于扫描电子显微镜(SEM分析和原子力显微镜AFM检测? Leics EM T
方案摘要这种复合型材料要获得有效截面,机械切割磨抛方式很难保证切割面的平整,也无法避免样品剖面的污染和边缘损伤;如果采用聚焦离子束FIB加工,应对几百微米的加工区域,将耗费大量时间和带来极高的使用成本。因此,氩离子束切割
1.独特的三离子束系统,可获得最佳的截面处理质量,并可高效获得宽且深的切割区域,大大降低工作时间。并可实现在一次处理过程中最多处理3个样品。因此对有高通量需求的实验室,徕卡EM TIC 3X是最佳解决方案。 2
钠离子电池行业经过多年发展,已经得到政府、产业、资本等各界的关注与布局,从技术到产品、从企业到社会均得到长足发展。但是其依然存在基础研究不完备、核心材料亟待突破、组装工艺仍需完善等问题,整体产业化步伐还有待持续推进。为了满足我国广大钠电产业的专家、学者、决策者、投资人的交流需求。天目湖先进电池产业创新论坛暨固态电池研讨会将于2月23日-24日在溧阳召开,徕卡将亮相此次论坛,带来更多先进电池产业创新解决方案。 时间:2023.2.23-24地点:天
非均相材料中的微结构一直是分析测试中的难点,传统的机械抛光方法往往无法获得光滑的表面,而一种新型离子束切割技术是一种解决该问题的有效方法。本文介绍了一种应用于金刚石/铝复合材料金相制样的新型三离子束(TIB)切割技术。随着各种新型电子仪器、设备层出不穷,市场迫切需要开发能够有效应对热膨胀、高效实现电子组件散热,以确保器件性能处于最佳状态的新型材料。近期,一种金刚石强化的铝基(金刚石/铝)复合材料问世,其具有出色的导热性能。然而,受非均质材料的本质的影响,分
用于扫描电镜分析的地质样品有油页岩、煤层、矿石、土壤和沉积物等多种类型,而对这些样品进行制样处理的主要操作就是获得一个无损伤的平整面。机械切割和机械磨抛很难避免处理过程中造成样品的微观组织破坏和磨料污染现象。特别是在扫描电镜高放大倍数的形貌观察下,地质样品的微观结构破坏非常明显,如下图1所示:图1.油页岩样品在机械研磨下造成的微观结构破坏徕卡EM TIC3X采用氩离子束轰击样品表层区域进行切割或抛光,是一种无机械应力破坏和无磨料污染的表面抛光方式。经过氩离
作者:Thomas Veitinger 博士细胞的很多基本功能主要取决于细胞质与细胞外间隙之间在离子(比如,钙、镁)、pH 以及电压电位上微妙的动态平衡,这些平衡的变化会显著改变细胞的行为和功能。因此,实时测定细胞内离子、电压和 pH 值的动态变化,是神经系统科学、细胞生物学以及细胞生理学研究人员的关注重点。但在很多情况下,采用常规的荧光手段很难对细胞或细胞通路中不同位置的实际离子浓度或相对变化量进行准确估算,产生这一问题的原因在于,这些方法没有考虑以下情
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