球差矫正高分辨电镜
技术参数：1.分辨率：STEM图像分辨： 0.071 nm TEM点分辨：0.19 nm (0.11 nm with TEM Cs corrector） 2.放大倍数：STEM 100 to 150,000,000x ......
DIL 832 真实差分高分辨热膨胀仪高灵敏度光学编码器和 TA 独家真实差分技术，适用于要求zei为严苛的研发实验室。凭借以下令人印象深刻的独特技术和功能，DIL 832 成为所有研发实验室执行机械和尺寸特性表征的理想工具：TA 仪器独家 True Differential™ 技术、获得专利的 1 nm 分辨率光学编码器、一系列新型动态加热炉以及新款线性样......
2020年02月14日，日本电子（JEOL Ltd.）总裁兼首席运营官Izumi Oi宣布发布全新原子分辨率分析电子显微镜JEM-ARM300F2（GRAND ARM™2）。■ 主要特点1 超高空间分辨率与能谱分析的组合优化。新开发的FHP2物镜极靴的特点如下：1）提高了能谱分析效率到两倍以上。2）低光学系数，低Cc系数和低Cs系数使得超高空间分辨......
“NEOARM” 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪（Cold-FEG）和全新的高阶球差校正器（ASCOR）。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下，均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统，采用日本电子独自开发的像差校正算法，可以自动进行快速准确的像差校正。由此实现了高通量的原子级分辨率成像。此外，新型STEM......
为了响应近来已成为主流的远程操作的需求，NEOARM的电镜室和操作室实行了分离式，主机使用了JEOL的新概念颜色—纯白色和JEOL银色，设计精炼时尚。主要特点： ◇ 球差校正器ASCOR（Advanced STEM Corrector）“NEOARM”配备的新型球差校正器ASCOR能够校正高阶像差（即6重像散，目前阻碍透射电镜分辨率进一步......
日本电子JEM-ARM200F NEOARM 原子分辨分析型球差校正透射电镜 Perfect sight检测器
参考成交价格： 2000~2500万元[人民币]
型号：JEM-ARM200F NEOARM
分辨率*1STEM HAADF 图像: 70 pm (200 kV)、100 pm (80 kV)TEM 信息分辨率: 100 pm (200 kV)、110 pm (80 kV)电子枪标配冷场电子枪球差校正器STEM: NEO ASCOR HOAC*2、TEM: CETCOR with DSS*3校正器自动合轴系统日本电子NEO JEOL COSMO™&n......
“NEOARM” 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪（Cold-FEG）和全新的高阶球差校正器（ASCOR）。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下，均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统，采用日本电子独自开发的像差校正算法，可以自动进行快速准确的像差校正。由此实现了高通量的原子级分辨率成像。此外，新型STEM......
为了响应近来已成为主流的远程操作的需求，NEOARM的电镜室和操作室实行了分离式，主机使用了JEOL的新概念颜色—纯白色和JEOL银色，设计精炼时尚。“NEOARM” 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪（Cold-FEG）和全新的高阶球差校正器（ASCOR）。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下，均能实现原子级分辨率的观察与分析。同......
主要特点： ◇ 自动像差校正软件JEOL COSMO™（Corrector System Module）JEOL COSMO™采用了全新像差校正算法(SRAM：Segmented Ronchigram Auto-correlation function Matrix)，校正像差不需要交换标准样品也可以快速精确地校正至高阶像差。与采用传统校......
主要特点： ◇ 新ABF（Annular Bright Field）检测器系统ABF检测器作为高分辨观察轻元素的有效手段已被广泛使用。“NEOARM”支持能增强轻元素衬度的新ABF成像技术（e-ABF：enhanced ABF），实现了对含有轻元素样品的原子级结构的观察。 ◇ Perfect sight检测器STEM系......