二次离子谱仪
AB SCIEX公司2011年zei新推出了SelexIONTM 技术。该技术解决了现有同类型仪器设计的不足，保留了串联质谱所有的功能，是首个获得高重现性、耐用性及易用性的离子淌度差分质谱分离技术(Differential Mobility Spectrometry, DMS)，同时还可为高灵敏度的定量与定性分析提供更多一维的选择性。DMS系统应用于T......
产品特点：锂离子二次电池（LIB）分析实例能观察到LIB的充电量 充满电后Li-K样品的谱图说明: 由于理论上的原因，氧化锂的检测很困难轻元素的测试实例SXES测试碳素化合物的实例可以测试金刚石、石墨、聚合物的不同。 各种氮素化合物的测试实例氮素也可以根据波形分析化学结合状态。 硝酸盐和氮化物的波形完全不同，还能观察到易受电子束损伤的铵盐......
仪器简介：240-MSGC-MS/MS是目前世界上灵敏度最高的3-D离子阱质谱仪；远远超越单级四极杆质谱的灵敏度；也是目前最多专利设计的离子阱质谱仪。其专利的三重共振扫描技术，完全消除分子离子反应、谱图匹配等问题。可由单级MS升级为多级MSn（n＝10）。 扫描功能：具有全扫描Scan、选择离子扫描SIS、选择反应监测SRM、多反应监测MRM等扫描模式，各种......
TOF-SIMS是一种非常灵敏的表面分析技术，适用于许多工业和研究应用。该技术通过对一次离子束轰击样品表面产生的二次离子进行质量分析，并行探测所有元素和化合物，具有极高的传输率（可达到100%），只需要一次轰击就可以得到研究点的完整质量谱图，从而提供有关样品表面、薄层、界面的详细元素和分子信息，并能提供全面的三维分析。其用途广泛，包括半导体，聚合物，涂料，涂......
使用 Agilent 7850 ICP-MS 避免 ICP-MS 分析中常见的时间陷阱。这一智能方法可减少时间浪费，让忙碌的工作人员可以专注于更有价值的工作。7850 ICP-MS 是一款能够处理固体含量高达 25% 的样品的 ICP 质谱仪，可减少费时的稀释步骤。这款仪器具有氦模式碰撞池和半质量校正功能，可避免多原子和双电荷离子干扰，使方法开发更......
沃特世液质SYNAPT G2-Si可以用在蛋白行业领域，用来检测蛋白质组学，可完成母离子，碎片离子项目。符合多项行业标准。 与其他所有质谱分析器不同，QuanTof能够提供高质量数高分辨率、精确质量数和准确的同位素比例、宽的动态范围（谱图内和定量）和m/z范围，并且都可以在zei快的采集速率实现，即便是对于高基质负荷的样品也是如......
沃特世液质SYNAPT G2-Si可用于测定蛋白质组学，适用于母离子，碎片离子项目。并且参考多项行业标准。可应用于蛋白行业领域。 与其他所有质谱分析器不同，QuanTof能够提供高质量数高分辨率、精确质量数和准确的同位素比例、宽的动态范围（谱图内和定量）和m/z范围，并且都可以在zei快的采集速率实现，即便是对于高基质负荷的样品......
点击查看下载二次离子质谱IONTOF / 超高分辨TOFSIMS / 应用于生物成像相关资料，进一步了解产品。 M6 是 IONTOF 在 TOFSIMS 5 基础上开发的新一代高端飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）仪器，对一次离子源（LMIG）和质量分析器（TOF Analyser）进行了突破性的改进。 Hybrid SIMSSIMS......
点击查看下载IONTOF / 超高分辨TOFSIMS / 二次离子质谱 应用于失效分析相关资料，进一步了解产品。 M6 是 IONTOF 在 TOFSIMS 5 基础上开发的新一代高端飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）仪器，对一次离子源（LMIG）和质量分析器（TOF Analyser）进行了突破性的改进。 Hybrid SIMS将TOF......
点击查看下载 / TOFSIMS 飞行时间 / 型二次离子质谱IONTOF 详细介绍（彩页）相关资料，进一步了解产品。 M6 是 IONTOF 在 TOFSIMS 5 基础上开发的新一代高端飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）仪器，对一次离子源（LMIG）和质量分析器（TOF Analyser）进行了突破性的改进。 TOF-SIMS是一种非......