原位eds分析
固体原位分析专家PhAT系统-独一无二 PhAT 系统固体原位分析专家是在RAMANRXN1TM的基础上革新生成的。它利用专利的PhAT技术，实现不同大面积的典型采样，突破了传统的zei好拉曼系统在固体化学领域的检出限，解决了小体积采样所带来的一系列问题。主要特点： ......
钢研纳克 激光光谱原位分析仪 LIBSOPA 200介绍激光光谱原位分析仪(LIBSOPA-200)是激光诱导击穿光谱分析技术（LIBS）和原位统计分布分析技术（OPA）完美结合的新型分析仪器。激光诱导击穿光谱原位统计分布分析技术(LIBSOPA)通过高能激光聚焦于样品表面，样品被击穿形成高温等离子体，通过检测等离子体光谱信号，获得样品的成分及元素分布信息的......
OPA-200金属原位分析仪是在国家科技部支持下开发成功的，是世界上首台可进行金属材料中大面积范围内的成分及状态定量分布的快速分析仪器，具备元素偏析度分析、夹杂物的定量分析与分布分析、金属表面疏松度分析以及成分分析四大基本功能。与传统技术比较，具有制样简单、定量准确、分析速度快的显著特点。OPA-200 金属原位分析仪工作原理原位分析技术(Original ......
Thermo Scientific™ Quattro™ 将成像和分析的全面性能与独特的环境模式（ESEM）相结合，使得样品研究得以在自然状态下进行。如今，研究型实验室普遍要求现代的扫描电子显微镜可以适应多种多样的样品分析需求，希望在获得出色的图像质量的同时尽可能简化样品制备过程。Quat t r o 的场发射枪（FEG）确保了优异的分辨率，通过不同的探测器选......
原位根系分析仪产品型号：HD-GXY产品简介：平面原位根系监测系统是一款土壤根系原位平面多层次图像监测仪，可获取土壤、根系侧面剖面图像，监测土壤中活体根系的生长状态，可获取高分辨率图像用于分析根系的详细结构。利用专业的原位根系分析软件可快速的分析计算获得根长、根表面积、体积、平均直径、根尖数等根系形态参数。本仪器克服了旋转式根系监测仪的局限性，可以连续测量一......
ReactIR原位反应分析了解反应动力学、机理，以及优化反应变量的途径通过ReactIR™ FTIR光谱仪，科研人员可以实时原位测量反应趋势与特性曲线，提供关于动力学、机理、途径以及反应变化因素对于性能影响的高度具体化的信息。在反应过程中，利用ReactIR直接跟踪反应物、试剂、中间体、产物与副产物发生的变化。当科研人员研究、开发与优化化合物、合成途径与化学......
点击查看下载赛默飞（原FEI) Verios XHR SEM 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 ......
产品详情真空光学系统巴邢—龙格架法光栅焦距750 mm刻线2400条/mm谱线范围170 ~ 800 nm分辨率优于0.01 nm电源220V/20A尺寸宽×深×高（155 cm×75 cm×160cm）重量毛重约700 Kg仪器介绍激光光谱原位分析仪(LIBSOPA-200)是激光诱导击穿光谱分析技术（LIBS）和原位统计分布分析技术（OPA）完美结合的新......
UltraDry EDS 检测器Thermo Scientific™ UltraDry EDS 检测器具备卓越的分辨率和不可思议的高采集率，可提供更快、更精确的 X-射线分析。产品概述Thermo Scientific™ UltraDry EDS 检测器可为金属、采矿、先进材料和半导体等行业提供更快、更精确的 X 射线分析，并且能为 Thermo Scien......
原位根系图像分析系统产品型号：HD-GX300产品简介：原位根系图像分析系统是第一款土壤原位全角度多层次旋转式图像监测仪，可获取土壤、根系底部刨面图像，监测土壤中活体根系的生长状态。可获取高分辨率图像便于分析根系的详细结构。专业的根系分析软件可快速的计算得到根长、根面积、体积、根尖数等根系形态参数。测量原理：测量时将扫描头插入预先埋在土壤中的透明根系探测管中......