贵金属 仪器检测方法
根据荧光谱线的波长可以进行定性分析。在一定实验条件下，荧光强度与被测元素的浓度成正比。据此可以进行定量分析。 原子荧光光谱仪分为色散型和非色散型两类。两类仪器的结构基本相似，差别在于非色散仪器不用单色器。色散型仪器由辐射光源、单色器、原子化器、检测器、显示和记录装置组成。性能特点专业贵金属检测、镀层厚度检测任意多个可选择的分析和识别模型内置信噪比增强器有效提......
在有些情况，如：印刷线路板上的IC导线，接触针及导体的零件等测量要求较高 ,一般而言，测量镀膜厚度基本上需符合下述的要求：1.不破坏的测量下具高精密度。2.极小的测定面积。3.中间镀膜及素材的成份对测量值不产生影响。4.同时且互不干扰的测量上层及中间镀膜 。5.同时测量双合金的镀膜厚及成份。而X-射线荧光法就可在不受素材及不同中间膜的影响下得到高精密度的测量......
测厚仪的工作原理：荧光X射线测厚仪的工作原理是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。 仪器介绍 Thick800A是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控......
是用晶体分光而后由探测器接受经过衍射的特征X射线信号。如果分光品体和控测器做同步运动，不断地改衍射角，便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度，可以据此进行特定分析和定量分析。 天瑞新型X荧光贵金属检测仪 EDX 3000 PLUS 在测量金、银、铂、钯等贵金属含量上功能独到。采用25mm2大面积铍窗探测器，可准确无误地分......
该种仪器产生于 50 年代，由于可以对复杂体进行多组同事测定，受到关注，特别在地质部门，先后配置了这种仪器，分析速度显著提高，起了重要作用。随着科学技术的进步在 60 年代初发明了半导体探测仪器后，对X 荧光进行能谱分析成为可能。 天瑞新型X荧光贵金属检测仪 EDX 3000 PLUS 在测量金、银、铂、钯等贵金属含量上功能独到。采用25mm2大面积......
用X 射线管产生原级 X 射线照射到样品上，所产生的特征X射线(荧光)这节进入 SI(LI)探测器，便可以据此进行定性分析和定量分析，第一胎 ED-XRF 是 1969 年问世的。近几年来，由于商品 ED-XRF 仪器及仪仪表计算机软件的发展，功能完善，应用领域拓宽，其特点，优越性日益搜到认识,发展迅猛。 天瑞新型X荧光贵金属检测仪 EDX 3000......
岛津电子探针EPMA-1720系列参考多项行业标准。完成贵金属的检测。可以用在地矿/有色金属行业领域中的贵金属催化剂 项目。 贵金属主要指金、银、钌、铑、钯、锇、铱、铂等 8 种金属元素，除金银外的后 6 种又统称 为铂族金属。贵金属元素具有优良的物理化学性能(如：高温抗氧化性和抗腐蚀性)、电学性能(优良 的导电性、高温热电性能和稳定的电阻温度系数等)、高的......
岛津电子探针EPMAEPMA-8050G可用于测定贵金属，适用于贵金属催化剂 项目。并且参考多项行业标准。可应用于地矿/有色金属行业领域。 贵金属主要指金、银、钌、铑、钯、锇、铱、铂等 8 种金属元素，除金银外的后 6 种又统称 为铂族金属。贵金属元素具有优良的物理化学性能(如：高温抗氧化性和抗腐蚀性)、电学性能(优良 的导电性、高温热电性能和稳定的电阻温度......
产品说明、技术参数及配置天瑞新型X荧光贵金属检测仪 EDX 3000 PLUS 在测量金、银、铂、钯等贵金属含量上功能独到。采用25mm2大面积探测器，可准确无误地分析出黄金，铂金和K金饰品中金、银、铂、钯、铜、锌、镍的含量，测试结果完全符合国标GB/T 18043-2000要求。黄金贵重，仪器贵精。EDX 3000 PLUS闪耀的亮点在于高准确......
X荧光贵金属检测仪 符合国标GB/T 18043-2013对仪器分辨率的要求，本产品是在天瑞仪器多年贵金属检测技术和经验基础之上研发的一款新型测试仪，采用新一代探测器及多道技术，实现高计数率，1秒出结果，准确分析贵金属含量。同时，具备二维移动平台及高清工业摄像头，实现样品......