广州 原子力显微镜
技术参数： 大范围高精度扫描探针显微镜 安捷伦5500LS Specifications Stage - Standard vacuum chuck size: 150 mm - Sample thickness: up to 35 mm - Ex......
AFM Solutions for General ResearchTall Sample 1.5 µm step height扫描模式：非接触模式，Z轴位置传感器的形貌Flat Sample Atomic steps of sapphire wafer台阶高度0.3 nm，扫描模式：非接触模式，Z轴位置传感器的形貌 Hard Sample Tun......
Automated Industrial AFM for High-Resolution 3D MetrologyPark Systems推出革命性的XE-3DM全自动原子力显微镜系统，专为垂悬轮廓、高分辨率侧壁成像和临界角的测量而设计。借助独有的XY轴和Z轴独立扫描系统和倾斜式Z轴扫描器，XE-3DM成功克服精确侧壁分析中的法向和喇叭形头所带来的挑战。......
自动观察自动完成光路调整、扫描参数设定、图像处理 使用标准样品和标准探针时操作用时5分钟**自动观察模式，扫描范围1um× 1um ，256×256点阵。操作时长依赖于操作者。 传统的原子力显微镜需要人工调整光路、设定扫描参数、进行图像处理。但是SPM-Nanoa可以帮助用户毫无压力地完成这些操作性能优异从光学显微......
帕克Park NX系列纯干货分享：原子力显微镜用户操作手册 研究电学特性的样品制备，需要样品表面和样品盘电学导通
参考成交价格： 暂无
Park原子力显微镜 扫描探针显微镜/SPM（原子力显微镜）
型号：Park NX系列
原子力显微镜样品制备详细流程 本手册共有32页，详细说明了原子力显微镜样品的制备流程。本手册为大家提供免费学习教程，旨在为使用原子力显微镜的研究人员或即将使用原子力显微镜的研究者们提供更有效的样品制备使用说明。 原子力显微镜以其较强的原子和纳米尺度上的分析加工能力，在纳米科学技术的发展中占据及其重要的位置，......
本手册共有32页，详细说明了原子力显微镜样品的制备流程。本手册为大家提供免费学习教程，旨在为使用原子力显微镜的研究人员或即将使用原子力显微镜的研究者们提供更有效的样品制备使用说明。 原子力显微镜以其较强的原子和纳米尺度上的分析加工能力，在纳米科学技术的发展中占据及其重要的位置，其测量结果会根据样品制备方式......
领域：电子/电器/半导体样品：光罩项目：修复技术Park NX-Mask基于AFM的 EUV 掩膜修复及其他性能 Park NX-Mask是一款用于修复高端EUV掩膜的创新型机台。Park NX-Mask 采用最新的原子力显微镜技术，配有新一代的光罩修复系统，用于解决随着器件尺寸缩小和光掩膜复杂性增加带来的新式挑战。从自动缺陷检测到缺陷......
产品介绍Park NX-Hybrid WLIAFM 和 WLI 技术集成系统用于 200mm至 300mm 晶圆的全自动工业化 AFM-WLI 系统是业内最快捷、最准确、最通用的半导体计量工具。Park NX-Hybrid WLI 是迄今为止首个内置白光干涉仪轮廓测量的 AFM 系统，可用于半导体元件的研发计量、过程控制和制造质量保证。Park NX-Hyb......
Park SmartScan™为用户提供原子力显微镜技术的强大功能Park SmartScan 是为Park原子力显微镜打造的革命性操作软件。即使是没有任何经验、没有经过任何培训的用户也可通过该软件制作高质量的纳米图像，而这一过程只需在自动模式下点击鼠标三下即可完成，这可以与专家团队利用传统技术制作的图像相媲美。SmartScan 手动模式适用于......
Park SmartLitho™Park SmartScan™ 的友好型界面支持用户进行纳米光刻和纳米操作SmartScan 可以自动进行成像所需的所有操作，并智能地确定最佳的图像质量和扫描速度。 Park的专有技术实现了SmartScan的自动化测量。可以帮助用户在最短时间内获得最佳的实验成果。最简易的纳米光刻和纳米操作的智能化软件由Smart......