微区光谱探测
微区 XRF 是 SEM 中 EDS 分析的互补分析技术扫描电子显微镜 （SEM）的微区 X 射线荧光 （Micro-XRF） 技术是与传统能量分散光谱 （EDS）能力补充的无损分析技术。这种分析技术对于未知样品中元素成分的表征非常重要，而未知样品的尺寸可以从厘米尺寸的不均匀样品到微米尺寸的颗粒X射线激发源为微量元素的检测带来了更高的灵敏度（对于某些元素，检......
能量色散X射线荧光光谱仪主要用途包括两个方面，元素成分定性及定量分析、涂覆层厚度分析。 ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪，针对一些珍贵的材质，可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图，实现测量点的准确定位，拥有直观的硬件和分析软件，加快了XRF分析仪器的现代化进程。&nbs......
1 产品简介传统测量样品反射率的反射光纤探头光斑直径最小仅能达到1-2mm左右，光斑直径限制了样品的大小以及光谱空间分辨率，而若要获得样品更微小的尺度的光谱信息，通常的做法是与显微系统连用。微区反射光谱测量系统即是将光谱分析技术与显微光路结合，可在微米级尺度上采集样品的光谱信息，广泛应用于物理、化学、生物等行业材......
产品介绍微区反射光谱测量系统即是将光谱分析技术与显微光路结合，可在微米级尺度上采集样品的反射光谱信息，广泛应用于物理、化学、生物等行业材料光谱性能研究。 产品特点◆ 模块设计：通过在显微镜中加装拓展模块实现光谱测量，同时可在客户现有显微镜基础上定制相应检测模块。◆ 共焦设计：光源光路与光谱仪接收光路共轴，独特的共焦设计使得测量“所见即所得”，并且系......
一、核心技术硬件核心技术：单色化聚焦激发技术全聚焦双曲面弯晶仅衍射X射线管出射谱中高强特征X射线，将入射到样品的X射线单色化并聚焦到样品一点，因此从样品出射的X射线除了样品中的元素被激发产生的荧光X射线和单色化入射谱线的散射线外，不存在连续散射背景，从而保证待测元素特征线具有极低的背景干扰。软件核心技术：全息基本参数法XRF法面临的难题是基体效应、元素间吸收......
产品简介传统光纤探头在进行样品透射或反射率测量时，受限于其光斑尺寸，最小采样直径通常仅可达 1–2 mm。这一限制不仅降低了空间光谱分辨率，也限制了对微小样品区域的有效分析。为满足微尺度下材料光学特性研究的需求，如海光电推出了微区透反射光谱测量系统，将光谱分析技术与显微光学系统深度融合，实现微米级区域的光谱信息采集。该系统采用光纤共焦照明结构，与传统科勒照明......
产品概述低温/磁场兼容的微区光谱测试系统我们的核心研发成员具有十余年的低温，强磁场，光谱，自动化控制与采集系统开发经验。我们将于2024年推出磁场下的微区光学测试解决方案。它支持最高达12 T磁场，低至2.8 K环境下的微区光学测试。包括荧光，荧光寿命，反射光谱，拉曼光谱，偏振分辨二次谐波，光电流，磁光克尔与反射磁圆二色。主要应用于磁性二维材料或磁性薄膜材料......