eds 能谱分析仪
使用 Thermo Scientific™ QUASOR™ 电子背散射衍射同时轻松获得 EBSD 数据和 EDS/WDS 全谱图像。 QUASOR 电子背散射衍射用于表征晶体结构特征，该特征决定了扫描电子显微镜 (SEM) 和 X-射线微区分析所分析的多种材料的物理性质。作为 Thermo Scientific™ NORAN™ 7 系统平台的全面集......
布鲁克新一代 QUANTAX EDS 采用XFlash® 6探测器系列，探测器的有效面积为 10 至 100 mm2。第 6 代 EDS 提供硬件和软件技术，以实现最快、最可靠的结果：节省时间 - 拥有细管径技术的新型探测器、大面积硅漂移探测器、可控制多个探测器以及具有高性能的脉冲处理器，更快地完成工作节省工作量 - ......
TEM、STEM 和 SEM （T-SEM） 中纳米尺度的 EDS 元素面分析清晰的多功能测量装置和细管径几何构型可确保在常规基础上快速可靠的采集 TEM EDS 数据。使用 HyperMap 或谱图获取高光谱成像，我们的软件保存每个像素的谱图和定量分析所需的所有元数据，用于之后的检测和处理。适合不同电子显微镜极靴类型的的 EDS 细管径设计和优化的EDS ......
easyXAFS台式X射线吸收精细结构谱仪XAFS/XES 适用于台式X射线吸收精细结构谱仪-XAFS项目，参考多项行业标准Tailoring Energy and Power Density through Controlling the Concentration of Oxygen Vacancies in V2O5/PEDOT Nanocable B......
产品规格：能量分辨率0.3eV（Al-L 光谱图73eV处测试）获取能量范围：衍射光栅JS50XL的能区50-170eV获取能量范围：衍射光栅JS50XL的能区70-210eV分光谱仪艙安装位置：EPMA的WDS接口：NO.2接口（正面右侧）FE-SEM的WDS接口（正面左后侧）分光谱仪尺寸 W 168mm×D 348mm ×H 683mm* 从接口包括CC......
产品特点：可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器，组合使用WDS和EDS，能提供无缝、舒适的分析环境。日本电子新开发出的EPMA （电子探针）秉承近半个世纪的EPMA的发展历史，JXA-8230具备用户友好的操作、通过新式简单易用的PC 用户界面提供完整范围的高精度、快速分析，这是JEOL长年来对高可靠性硬件不断改良的结果。JXA-8230电子探针是......
点击查看下载赛默飞（原FEI) Verios XHR SEM 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 ......
性能优势准：基于光学衰减方法，检出限低至5 ng/m3，达到行业领先水平；双通道同时采样，实时获取补偿参数；光学校准片定期校准光学衰减斜率，保障监测准确性；快：测量周期1或60秒可选，适应在线定点监测及走航等移动监测模式；开机5分钟内完成预热，快速响应；耗材更换快捷便利，光学室、切割器拆卸步骤简易，清洁方便；全：7至10波段光源，全面获取光学衰减情况，丰富黑......
UltraDry EDS 检测器Thermo Scientific™ UltraDry EDS 检测器具备卓越的分辨率和不可思议的高采集率，可提供更快、更精确的 X-射线分析。产品概述Thermo Scientific™ UltraDry EDS 检测器可为金属、采矿、先进材料和半导体等行业提供更快、更精确的 X 射线分析，并且能为 Thermo Scien......
