损耗标准 standard
NHT³ 纳米压痕测试仪适合在纳米到微米的尺度下测量硬度、弹性模量、蠕变以及其他表面特性。它的量程为 0.1 mN 至 500 mN，提供最大的通用性。由于独特的表面参比技术，无需等待其达到热稳定状态，开机立即进行仪器压痕测试。“快速点阵”压痕模式可实现高效率（每小时测试量高达 600 个压痕）。在独特的 Step 表面试平台上......
KIPP&ZONEN DustIQ 灰尘监测系统 产品技术指标：Specifications传输损耗（TL）范围被遮挡或散射的太阳光的比，使其不能达到实际的太阳能电池。0 – 50%污染率（SR）范围100 – 50% (SR = 100 –TL)传输损耗测量......
GCSTD-D变压器介质损耗测试仪冠测 标准有特定规范与标准，应用于电子/半导体行业领域。点击查看相关规范标准。 接触法：适用于厚度均匀、上下表面平整、光滑材料非接触法：适用于上下表面不平整、不光滑材料电极类型：固定电极-测量电极φ38mm／φ50mm（标配电极1套，标配为38mm）液体电极-液体容量15ml粉体电极-根据样品量可配专用电极试样类型：固体......
工频介电常数及介质损耗测试仪冠测GCSTD-CII 标准有特定规范与标准，应用于纺织/印染行业领域。点击查看相关规范标准。 本仪器是一种先进的测量介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）的仪器，测量各种绝缘材料、绝缘套管、绝缘液体、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）。......
介电常数介质损耗测定仪冠测介电常数测定 标准有特定规范与标准，应用于汽车/铁路/船舶行业领域。点击查看相关规范标准。 接触法：适用于厚度均匀、上下表面平整、光滑材料非接触法：适用于上下表面不平整、不光滑材料电极类型：固定电极-测量电极φ38mm／φ50mm（标配电极1套，标配为38mm）液体电极-液体容量15ml粉体电极-根据样品量可配专用电极试样类型：......
工频抗干扰介质损耗测试仪GCSTD-CII冠测 标准有特定规范与标准，应用于电子/半导体行业领域。点击查看相关规范标准。 本仪器是一种先进的测量介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）的仪器，测量各种绝缘材料、绝缘套管、绝缘液体、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）。 ......
高低频电缆介质损耗检测仪器GCSTD-D介电常数测定 标准有特定规范与标准，应用于电子/半导体行业领域。点击查看相关规范标准。 接触法：适用于厚度均匀、上下表面平整、光滑材料非接触法：适用于上下表面不平整、不光滑材料电极类型：固定电极-测量电极φ38mm／φ50mm（标配电极1套，标配为38mm）液体电极-液体容量15ml粉体电极-根据样品量可配专用电极试......
工频音频高频电容介质损耗测试仪冠测GCSTD-D 标准有特定规范与标准，应用于电子/半导体行业领域。点击查看相关规范标准。 接触法：适用于厚度均匀、上下表面平整、光滑材料非接触法：适用于上下表面不平整、不光滑材料电极类型：固定电极-测量电极φ38mm／φ50mm（标配电极1套，标配为38mm）液体电极-液体容量15ml粉体电极-根据样品量可配专用电极试样类......
异频介质损耗测试仪GCSTD-A/B介电常数测定 标准有特定规范与标准，应用于电子/半导体行业领域。点击查看相关规范标准。 介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频......
介质损耗介电常数检测仪介电常数测定GCSTD-A/B 标准有特定规范与标准，应用于电子/半导体行业领域。点击查看相关规范标准。 介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高......