tem样品切片
产品特点：带有样品冷却系统，对容易受热损伤的样品也可以进行截面制备的离子切片仪。①通过液氮制冷，减轻了离子照射时对样品造成的热损伤。②可以用于制备TEM的薄膜样品和SEM的截面样品*③冷却保持时间长，大大减少了热损伤。④在装有液氮的情况下，也可以交换样品。*zei大样品尺寸:2.8mm(长度)×1.0 mm(宽度)×0.1mm(厚度)。产品规格IB-0906......
产品特点：带有样品冷却系统，对容易受热损伤的样品也可以进行截面制备的离子切片仪。①可以用于制备TEM的薄膜样品和SEM的截面样品*②通过液氮制冷，减轻了离子照射时对样品造成的热损伤。③冷却保持时间长，大大减少了热损伤。④在装有液氮的情况下，也可以交换样品。*zei大样品尺寸:2.8mm(长度)×1.0 mm(宽度)×0.1mm(厚度)。产品规格IB-0906......
适用于 TEM 的 Octane SDD 系列EDAX 用于 TEM 的 Octane SDD 系列是全球首款实现完全集成的透射电子显微镜 SDD。数据采集和信号处理电子元件被完全集成到探测器中。集成探测器考究的设计，不仅使性能得到提升，便于安装，还可通过几乎任何计算机借助以太网轻松实现远程访问。EDAX 的 TEAM™ EDS 系统配备了用于透射电子显微镜......
牛津仪器硅漂移探测器X-Max TEM可以用在电子/半导体行业领域，用来检测Power Semiconductors，可完成Power Semiconductors项目。符合多项行业标准Oxford Instruments。 半导体制造解决方案 X-MaxN 80 T 的大面积80mm2晶体专为常规TEM应用而设计，可提供卓越的立体角和分析性能旨在......
牛津仪器EDSX-Max TEM可用于测定Polymer Materials，适用于Polymer Materials项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于生物质材料行业领域。 聚合物添加剂分析 X-MaxN 80 T 的大面积80mm2晶体专为常规TEM应用而设计，可提供卓越的立体角和分析性能旨在获得高输出效率与......
牛津仪器EDSX-Max TEM参考多项行业标准Oxford Instruments。完成Construction Materials的检测。可以用在地矿/有色金属行业领域中的Construction Materials项目。 机械及电学性能 X-MaxN 80 T 的大面积80mm2晶体专为常规TEM应用而设计，可提供卓越的立体角和分析性能旨在获......
Arctic 原位冷冻热电样品杆Lightning Arctic TEM 原位冷冻热电样品杆是 DENSsolutions 全新升级创新的原位解决方案，可以在冷却或加热样品的同时，对其施加可控的电学刺激，并以原子级分辨率在透射电镜下观察样品的实时动态过程。温度范围 -160℃ 至 1000℃，它大大拓宽了 TEM 的应用领域范围，进而为研究低温物理，以及探究......
TEM 原位加热样品杆 Wildfire 能够对材料在高温作用下的变化进行原位表征。使用 Wildfire 原位样品杆，样品以及样品所处的环境的温度可以得到稳定且精准的控制，同时可以保持 TEM 在非原位时的最佳性能。 TEM 原位加热样品杆 DENSsolutions Wild......
产品概况TEM 原位热电样品杆 Lightning 帮助研究人员在精准控制加电和加热环境的同时观察样品变化的实时动态过程，同时可以保持 TEM 在非原位时的最佳性能。 TEM 原位热电样品杆 DENSsolutions Lightning 扩展了 TEM 的应......
通过自动化为团队赋能自动校准功能可自动将块面和刀具对准在一起，从而减少对用户培训的需求。UC Enuity可自动进行修块 - 您只需定义样本块的边界，其余工作将自动完成。借助荧光修整目标使用UC Enuity，您可以在室温和冷冻条件下的切片过程中监测荧光信号。在树脂块中快速识别感兴趣的区域。使体电子显微成像实验的每个切片都充分发挥作用使用UC Enuity加......