离子减薄仪 挡板
徕卡 多功能离子减薄仪Leica EM RES102可用于测定粉体类，适用于粉体类样品离子束切割的扫描电镜制样项目。并且参考多项行业标准圆派科学仪器。可应用于纺织/印染行业领域。 粉体类样品离子束切割的扫描电镜制样技巧 Leica EM RES102 多功能离子减薄仪产品规格下载性能与优点 适用于TEM，SEM以及LM的样品制备&nbs......
徕卡 多功能离子减薄仪Leica EM RES102适用于小零件的微纳镀层截面CP制备项目，参考多项行业标准圆派科学。可以检测小零件的微纳镀层等样品。可应用于航空/航天行业领域。 微小零件的微纳镀层截面CP制备方法分享(精研一体机,离子束切割抛光仪) 这一款独立的桌面型设备集 TEM，SEM和LM样品制备功能于一体，这与市面上其它设备截然不同。除了高能量离子......
徕卡电镜制样Leica EM RES102参考多项行业标准圆派科学。完成小零件的微纳镀层的检测。可以用在生物质材料行业领域中的小零件的微纳镀层截面CP制备项目。 微小零件的微纳镀层截面CP制备方法分享(精研一体机,离子束切割抛光仪) 这一款独立的桌面型设备集 TEM，SEM和LM样品制备功能于一体，这与市面上其它设备截然不同。除了高能量离子研磨功能外，徕卡E......
徕卡 多功能离子减薄仪Leica EM RES102可用于测定小零件的微纳镀层，适用于小零件的微纳镀层截面CP制备项目。并且参考多项行业标准圆派科学。可应用于纳米材料行业领域。 微小零件的微纳镀层截面CP制备方法分享(精研一体机,离子束切割抛光仪) Leica EM RES102 多功能离子减薄仪产品规格下载性能与优点 适用于TEM，S......
仪器简介： 一、1050型离子减薄仪性能概述 For many of today’s advanced materials, analysis by transmission electron microscopy (TEM) is the best ......
Gentle Mill 离子减薄仪/离子精修仪--用于制备高质量 TEM/FIB 样品Technoorg Gentle Mill 离子精修仪产品专为最终抛光、精修和改善 FIB 处理后的样品而设计。 Gentle Mill 型号非常适合要求样品无加工痕迹、表面几乎没有任何损坏的 XTEM、HRTEM 或 STEM 的用户。 同时，Gentle Mi......
Fischione微束定点离子刻蚀仪Fischione微束定点离子刻蚀仪（型号：1040）主要用来对半导体集成电路、芯片、器件等样品的刻蚀处理，从而获取该类样品的线路结构，该产品主要由聚焦离子枪及高压电场、配套真空系统、触屏控制系统、配套线缆及气路等等部分组成。Fischione微束定点离子刻蚀仪（型号：1040）主要技术参数：1、加工离子能量范......
技术优势：两支独立可调电磁聚焦离子枪同时具备高能量（快速抛光）和低能量（精细修复）超宽加速电压范围：100eV 到10kV，不同加速电压下，离子束束斑均保持理想束斑状态每支离子枪均配备对应法拉第杯进行离子束直接探测采用可调节10英寸触屏控制系统，人机界面友好，操作简洁减薄角度范围：-15°到+10°连续可调样品载台X-Y 可调，可根据需要调整样品减薄位置具备......
