XRF分析是一项成熟的技术,利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子,使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。用于在整个行业范围内验证成分,是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。在测定电子电器产品中是否存在限用物质时,一般采用XRF进行初筛。其基本的无损性质,加上快速测量和结构紧凑的台式仪器等优点,能实现现场分析并立即得到......
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