tem的晶格,亮的是样品
JEM-F200自动进样透射电镜透射电镜操作难点1，插拔样品杆；2，电镜操作JEM-F200自动插拔样品杆JEM-F200图像操作界面[分辨率]STEM0.16 nm (200 kV)TEM (晶格, 点)0.19 nm (200 kV)0.10 nm (晶格, 200 kV)[放大倍率]STEMx 20,000 ～ x 200,000,000TEMx 20......
高灵敏度、低噪声1900万像素CMOS传感器成像更清晰，可在低电子剂量下呈现样品细节。 全局快门和高帧率（58 fps/全像素模式）设计使其在动态观察过程中原位采集图像。“SightX”摄像系统控制软件简单易用。 Si3N4高分辨率TEM图像“数码变焦”可确保成像清晰，在晶格分辨率下同样表现优异。 &......
Si3N4高分辨率TEM图像“数码变焦”可确保成像清晰，在晶格分辨率下同样表现优异。 Al72 Fe24 Ni4十二边形准晶体高分辨率TEM图像和电子衍射图像利用“数码变焦”功能可以观察呈现准周期性排列的原子，如准晶体的特征。此外，高动态范围还可提高电子衍射图像的对比度，对高亮度直射光......
TEM 原位加热样品杆 Wildfire 能够对材料在高温作用下的变化进行原位表征。使用 Wildfire 原位样品杆，样品以及样品所处的环境的温度可以得到稳定且精准的控制，同时可以保持 TEM 在非原位时的最佳性能。 TEM 原位加热样品杆 DENSsolutions Wild......
产品概况TEM 原位热电样品杆 Lightning 帮助研究人员在精准控制加电和加热环境的同时观察样品变化的实时动态过程，同时可以保持 TEM 在非原位时的最佳性能。 TEM 原位热电样品杆 DENSsolutions Lightning 扩展了 TEM 的应......
Arctic 原位冷冻热电样品杆Lightning Arctic TEM 原位冷冻热电样品杆是 DENSsolutions 全新升级创新的原位解决方案，可以在冷却或加热样品的同时，对其施加可控的电学刺激，并以原子级分辨率在透射电镜下观察样品的实时动态过程。温度范围 -160℃ 至 1000℃，它大大拓宽了 TEM 的应用领域范围，进而为研究低温物理，以及探究......
中文名：纳米氧化铈英文名：Cerium oxide纯度：≥99.95% metals basis, 电子材料 > 无机和金属纳米材料 ......
中文名：碳英文名：Carbon纯度：纳米粉末,＜100 nm 粒径 (TEM)货号：C434781Cas号：7440-44-0产品介绍：碳纳米粉末具有非石墨结构，即不具有长的结构顺序。应用将纳米碳粉用于氧化处理纳米碳的对比研究。非石墨碳可以以涂层的形式用于锂离子电池。制备说明通过激光技术形成的无定形材料。查看阿拉丁官网此产品相关对应页面：https://ww......
中文名：铂英文名：Platinum纯度：纳米粉末 电子材料 > 无机和金属纳米材料 ......
Thermo Scientific™ Metrios™ AX S/TEM 是一款 60–200 kV 扫描/透射电子显微镜 (S/TEM)，它采用全新设计，能够在前所未有的通量水平上提供可重复的基于 TEM 和 STEM 的成像、分析和测量结果。Metrios AX S/TEM 配有一套软件，可支持提升生产率的自动化功能、基于机器学习的导航和全天候自动化等功......