轮廓仪 邮件
Profilm3D 光学轮廓仪 低成本 – 高精度Filmetrics让3D光学轮廓测量的价格变得更加能够接受。Profilm3D使用先进的垂直干涉扫描(WLI)与高精度的相位干涉(PSI)技术。以前所未有的价格实现次纳米级的表面形貌研究。100mm自动XY样品台您还在位每人都希望要的功能而支付额外的费用吗？我们现在每台Pro......
1、简介 由于受到触针针尖半径等的影响，触针式表面轮廓仪横向分辨率受到限制，对于峰峰值很小的表面，触针很难伸到谷底，测得的轮廓失真严重。而且由于接触测量，锋利的针尖会划伤测量表面，同时触针使用一段时间后会产生磨损，都会使测量结果不可靠。因此非接触测量成为表面测量的一个重要方向。 干涉显微镜自上世纪至今一直是非接触测量高等级表面粗糙度的主要......
AF2 自动对焦(Autofocus) 借由探测器的回馈讯号调整物镜位置，得到待测物焦点，而获得待测物的确实高度(如下左图)。 CF4 共轭焦(Confocal, Laser) 激光光束经由物镜迅速上下移动聚焦于待测物上，此时偵测器能经由孔洞得到zei大光的强度，如此侦测器根据此讯号确定其位置......
KLA D-300 探针式表面轮廓仪Alpha-Step D-300 探针式轮廓仪支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D 测量。 创新的光学杠杆传感器技术提供高分辨率测量，大垂直范围和低触力测量功能。 探针测量技术的一个优点是它是一种直接测量，与材料特性无关。可调节的触力以及探针的选择都使其可以对各种结构和材料进行精确测量。通过测......
Dektak XTL™ 探针式轮廓仪可容纳高达 350mm x 350mm 的样品，为大型晶圆和面板制造带来Dektak ®传奇的可重复性。Dektak XTL 具有空气振动隔离设计和全封闭工作站设计，具有易用的联锁门，是当今苛刻的生产车间环境的的理想之选。其双摄像头架构可增强空间感知能力，其高自动化水平可最大限度地提高测试通量。业界最......
结合了十多年的包装光学特性专门知识，CONTESSP大型面板计量系统使高密度互连PCB(HDI-PCB)基板的测量吞吐量比上一代WLI仪器提高了一倍以上。该系统专门设计用于测量制造过程中PCB面板的每一层，并包含了一系列先进的功能，为半导体封装行业提供了最大的生产性能、方便、可靠性和吞吐量。具有量规能力的Confee SP使用了一个直观的生产界面，提供了......
