edx系列x射线测厚仪
岛津能量色散X射线荧光光谱仪EDX-LE Plus：技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 较大W370mm×D320mm×H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性......
超高性能X射线荧光光谱仪，无语伦比的通用性——EDX-8100 致元素分析的您 无需液态氮！ 使用电子冷却方式的高性能SDD检测器 高灵敏度！高速！高分辨率！ ......
超高性能X射线荧光光谱仪，无语伦比的通用性——EDX-8100 致元素分析的您 无需液态氮！ 使用电子冷却方式的高性能SDD检测器 高灵敏度！高速！高分辨率！ &n......
岛津能散型XRF EDX-8100可用于测定 稀有/稀土/贵金属 ，适用于痕量元素 项目。并且参考多项行业标准/ VBA。可应用于地矿/有色金属行业领域。 利用EDX和XRD对选矿前后铜矿石中的成分和化合物形态作了分析。借助EDX定性分析中获得的所含元素信息，可使得XRD物相检索结果更准确。此外，借助XRD定性分析获得的化合物信息，可使得EDX元素定量分析更......
EDX-LE Plus岛津能量色散型X射线荧光分析仪 EDX-LE/EDX-LE Plus简单操作指南针对不同使用环境，有着不同的操作与维护流程，点击查看操作维修手册。 该简单操作指南对EDX-LE/EDX-LE Plus的基本操作进行了简单地说明。 岛津能量色散X射线荧光光谱仪EDX-LE Plus：技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析......
产品说明、技术参数及配置EDX-V是天瑞仪器集30多年X荧光膜厚测量技术,研发的一款X射线荧光镀层测厚及成分分析仪。仪器采用多导毛细管X射线光学系统,对于微米级尺寸电子零件、芯片针脚、晶圆微区等部件的镀层厚度和成分分析,能进行高效、准确的测量。性能优势1、结合镀层行业微小样品的检测需求,专门研发适用于镀层检测的超近光路系统,减少能量过程损耗。搭载先进的多导毛......
Thermo Scientific™ 21Plus-C 在线X射线测厚仪提供精确、稳定的高分辨率厚度或重量测量，可显著改进薄膜产品的质量稳定性。其采用数字式的电源控制，可以精确调整传感器来测量材料特性。 该系统为连续卷材行业提供了广泛的通用解决方案，被测材料可以在同一条生产线上，根据检测需求灵活定制，并使用一个或多个机架进行测量。采用高分辨率传感器，丰富的......
X荧光镀层测厚仪 EDX600Pro是天瑞仪器股份有限公司集多年X荧光镀层厚度测量技术经验，专门研发的一款下照式结构的镀层测厚仪。测量方便快捷，无需液氮，无需样品前处理。对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层的成分厚度以及电镀液金属离子浓度进行精准检测,帮助企业准确核算成本及质量管控。可广泛应用于光伏行业、五金卫浴、电......
X荧光镀层测厚仪 EDXThick800是一款全新上照式多功能自动微区X荧光膜厚测试仪,既满足原有微小和复杂形态样品的膜厚检测功能,又可满足有害元素检测及轻元素成分分析;搭载自动化的X/Y/Z轴的三维系统、双激光定位和保护系统,可多点位编程测试,被广泛应用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量。 ......
X射线荧光镀层测厚仪 EDX-T是天瑞仪器股份有限公司集30多年X荧光膜厚测量技术,研发的一款全新上照式X射线荧光分析仪,该款仪器配置嵌入集成式多准直孔、滤光片自动切换装置和双摄像头,不仅能展现测试部位的细节,也能呈现出高清广角视野;自动化的X/Y/Z轴的三维移动,实现对平面、凹凸、拐角、弧面等各种形态的样品进行......