edx成分元素分析仪
产品说明、技术参数及配置秉承X荧光光谱仪20多年研发经验，天瑞元素录井分析仪EDX5500H再次推动了岩石中元素含量向具体化、快速化方向的发展。将Ｘ射线荧光分析(XRF)用于岩屑录井这项技术的独到之处在于：通过岩屑化学元素组合特征的分析来识别岩性，再通过岩性的组合特征分析来判断层位，因此适合于任何钻井条件下的岩屑录井。高效真空形成条件及高灵敏半导体探测器保障......
秉承X荧光光谱仪20多年研发经验，天瑞元素录井分析仪EDX5500H再次推动了岩石中元素含量向具体化、快速化方向的发展。将Ｘ射线荧光分析(XRF)用于岩屑录井这项技术的独到之处在于：通过岩屑化学元素组合特征的分析来识别岩性，再通过岩性的组合特征分析来判断层位，因此适合于任何钻井条件下的岩屑录井。高效真空形成条件及高灵敏半导体探测器保障对岩心中的元素具有超低的......
进行X射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。无论什么样品，样品制备的情况对测定误差影响很大。对金属样品要注意成份偏析产生的误差；化学组成相同，热处理过程不同的样品，得到的计数率也不同；成分不均匀的金属试样要重熔，快速冷却后车成圆片；对表面不平的样品要打磨抛光；对于粉末样品，要研磨至300目-400目，然后压成圆片，也可以放入样品槽中测定。对于固......
不同元素的荧光X射线具有各自的特定波长，因此根据荧光X射线的波长可以确定元素的组成。如果是波长色散型光谱仪，对于一定晶面间距的晶体，由检测器转动的2θ角可以求出X射线的波长λ，从而确定元素成分。事实上，在定性分析时，可以靠计算机自动识别谱线，给出定性结果。但是如果元素含量过低或存在元素间的谱线干扰时，仍需人工鉴别。首先识别出X射线管靶材的特征X射线和强峰的伴......
虽然光波色散型(WD-XRF) X 射线荧光光谱仪与能量色散型 (ED-XRFX射线荧光光谱仪同属于 X 射线荧光分析仪，它产生信号的方法相同，最后得到的波谱也极为相似，单由于采集数据的方式不同，WD-XRF(波谱)与WD-XRF(能谱)在原理和仪器结构上有所不同，功能也有区别。 完全满足于黄铜成分分析以及其他金属样品的成分分析 应用新一代的......
岛津能散型XRF EDX-LE Plus参考多项行业标准。完成有机物的检测。可以用在日用化学品行业领域中的变色和着色成分分析项目。 岛津能量色散X射线荧光光谱仪EDX-LE Plus：技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 较大W370......
岛津 能量色散型X射线荧光分析装置EDX-8100 EDX-8100参考多项行业标准/ VBA。完成 稀有/稀土/贵金属 的检测。可以用在地矿/有色金属行业领域中的痕量元素 项目。 利用EDX和XRD对选矿前后铜矿石中的成分和化合物形态作了分析。借助EDX定性分析中获得的所含元素信息，可使得XRD物相检索结果更准确。此外，借助XRD定性分析获得的化合物信息，......
岛津 能量色散型X射线荧光分析装置EDX-8100 EDX-8100适用于痕量元素 项目，参考多项行业标准/ VBA。可以检测 稀有/稀土/贵金属 等样品。可应用于地矿/有色金属行业领域。 利用EDX和XRD对选矿前后铜矿石中的成分和化合物形态作了分析。借助EDX定性分析中获得的所含元素信息，可使得XRD物相检索结果更准确。此外，借助XRD定性分析获得的化合......
产品说明、技术参数及配置秉承X荧光光谱仪20多年研发经验，天瑞元素录井分析仪EDX5500H再次推动了岩石中元素含量向具体化、快速化方向的发展。将Ｘ射线荧光分析(XRF)用于岩屑录井这项技术的独到之处在于：通过岩屑化学元素组合特征的分析来识别岩性，再通过岩性的组合特征分析来判断层位，因此适合于任何钻井条件下的岩屑录井。真空形成条件及高灵敏半导体探测器保障对岩......
EDX-LE Plus岛津能量色散型X射线荧光分析仪 EDX-LE/EDX-LE Plus简单操作指南针对不同使用环境，有着不同的操作与维护流程，点击查看操作维修手册。 该简单操作指南对EDX-LE/EDX-LE Plus的基本操作进行了简单地说明。 岛津能量色散X射线荧光光谱仪EDX-LE Plus：技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析......