薄膜厚度的测试方法
Filmetrics F20 薄膜厚度测量仪测量厚度从1nm到10mm的先进膜厚测量系统不论您是想要知道薄膜厚度、光学常数，还是想要知道材料的反射率和透过率，F20都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装，通过USB连接电脑，设备就可以在数秒内得到测量结果。基于某模块化设计的特点，F20适用于各种应用：• 测量厚度、折射率、反射率和穿透率：- &n......
F10-HC薄膜厚度测量仪 极具有价格优势的先进薄膜测量系统以F20平台为基础所发展的F10-HC薄膜测量系统，能够快速的分析薄膜 的反射光谱资料并提供测量厚度，加上F10-HC软件特有的先进模拟演算法的专利设计，能够在厚膜中测量单层与多层(例如：底漆或硬涂层等)。前所未见的简易操作界面现在，具有新样板模式功能的F10-HC将更容易使用，这个功能允......
F32薄膜厚度测量仪在线测量的解决方案使用F32可以简单快速地在线测量膜厚。从对膜的顶部和底部反射光谱进行分析可得到实时厚度信息。F32先进的光谱分析系统采用半宽的3U rack-mount底盘，加上附加的分光计，可达到四个不同的位置（EXR和UVX版本最多两个位置）。F32软件可以通过数字I/O或主机软件来控制启动/停止/复位测量。测量数据可以自动导出到主......
Filmetrics-F40薄膜厚度测量仪-膜厚仪 结合显微镜的薄膜测量系统Filmetrics F40 SS-Microscope-VIS-1系统 &n......
F54薄膜厚度测量仪自动化薄膜测绘 Filmetrics F54 系列的产品能以一个电动R-Theta 平台自动移动到选定的测量点以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度, 样品直径达450毫米，可选择数十种内建之同心圆,矩形,或线性图案模式,或自行建立无数量限制之测量点.仅需具备基本电脑技能的任何人可在数......
F10-AR薄膜厚度测量仪易于使用而且经济有效地分析减反涂层和镜头上的硬涂层F10-AR 是为简便而经济有效地测试眼科减反涂层设计的第一台仪器。虽然价格大大低于当今绝大多数同类仪器，应用几项独家先进技术， F10-AR 使线上操作人员经过几分钟的培训，就可以进行厚度测量。在用户定义的任何波长范围内都能进行最低、最高和平均反射测试。我们有专门的算法对硬涂层的局......
主要特点全景成像模式：将所有传感器进行同步，轻松快速地分析涂层结合力和耐划伤性能安东帕持有美国专利 8261600 和欧洲专利 2065695。全景模式是划痕仪软件zei重要的特征。划痕后，您可以选择用选配的自动同步的传感器：声发射、位移、载荷和摩擦力传感器来记录全景。当采用全景成像模式记录时，可以随时重新分析划痕。粘弹性材料表征使用前扫描和多次后扫描测量专......
F10-RT薄膜厚度测量仪同时测量反射和透射以真空镀膜为设计目标，F10-RT 只要单击鼠标即可获得反射和透射光谱。 只需传统价格的一小部分，用户就能进行最低/最高分析、确定 FWHM 并进行颜色分析。可选的厚度和折射率模块让您能够充分利用 Filmetrics F10 的分析能力。测量结果能被快速地导出和打印。选择Filmetrics的优势• 桌面式薄膜厚......
技术指标法向载荷精细量程zei大量程zei大载荷 [N]100200分辨率[mN]36本底噪音 [rms] [μN]*1000划痕深度精细量程zei大量程zei大深度 [μm]1001000深度分辨率 [nm]1,515本底噪音 [rms] [nm]*2.5摩擦力精细量程zei大量程zei大摩擦力 [N]100200摩擦力分辨率 [mN]36 声发......
主要特点专利同步全景成像模式此种 功能为安东帕划痕测试仪所独有。它可以自动将所有传感器信号和全 景成像的划痕图像实现完全同步。通过这种方式，可以在与界面上的划痕图片完全对应的情况下离线分析测量数据。安东帕拥有同步全景成像模式方面的专利 US 12/324、237 以及 EP 2065695。曲面和粗糙表面 的测量由于其采用了独特的载荷传感器控制技......