概要:FT230台式XRF分析仪的设计大大减少了进行测量的时间。日立工程师意识到样品的设置和测量配方的选择往往会耗费大量的时间,因此推出了一个有着突破性的分析仪,其可以有效地 "设置 "自己,使得在过程中可以分析更多的零件。自动化和创新软件是FT230分析仪的特点。智能识别模块,如Find My Part™(查找我的样品),意味着操作者只......
用X 射线管产生原级 X 射线照射到样品上,所产生的特征X射线(荧光)这节进入 SI(LI)探测器,便可以据此进行定性分析和定量分析,第一胎 ED-XRF 是 1969 年问世的。近几年来,由于商品 ED-XRF 仪器及仪仪表计算机软件的发展,功能完善,应用领域拓宽,其特点,优越性日益搜到认识,发展迅猛。 天瑞新型X荧光贵金属检测仪 EDX 3000......
岛津电子探针EPMAEPMA-1720系列适用于 玻璃条纹缺陷的形貌及元素分析 项目,参考多项行业标准/ VBA。可以检测 玻璃 等样品。可应用于多个行业领域。 本文使用岛津扫描探针显微镜SPM和电子探针EPMA对三类玻璃条纹缺陷进行了测试和分析。在玻璃制品生产过程中,产生条纹的因素有很多,对于玻璃条纹缺陷形态、成分及元素分布特征的表征可以为条纹缺陷产生的原......