fe3o4怎么做sem
Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR（极高分辨率）SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中，它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率以及增强的对比度，满足材料精密测量所需，同时又不会削弱传统扫描电子显微镜 (SEM) 所具有的高吞吐量、分析能力、样本灵活性和易用性等优势。Verios 的生命科学......
安捷伦ICP-MSAgilent 8900 可以用在电子/半导体行业领域，用来检测半导体级四甲基氢氧化铵 (TMAH)，可完成多元素 NP项目。符合多项行业标准。 使用 Agilent 8900 ICP-MS/MS，在多元素 spICP-MS 模式下，对 1% TMAH 中的多元素纳米颗粒进行了测定和表征。对于半导体级化学品中的多元素 NP&n......
安捷伦三重四极杆 ICP-MSAgilent 8900 可用于测定半导体级四甲基氢氧化铵 (TMAH)，适用于多元素 NP项目。并且参考多项行业标准。可应用于电子/半导体行业领域。 使用 Agilent 8900 ICP-MS/MS，在多元素 spICP-MS 模式下，对 1% TMAH 中的多元素纳米颗粒进行了测定和表征。对于半导体级化学品中的多元素&n......
安捷伦三重四极杆 ICP-MSAgilent 8900 可用于测定半导体级四甲基氢氧化铵 (TMAH)，适用于多元素 NP项目。并且参考多项行业标准。可应用于电子/半导体行业领域。 使用 Agilent 8900 ICP-MS/MS，在多元素 spICP-MS 模式下，对 1% TMAH 中的多元素纳米颗粒进行了测定和表征。对于半导体级化学品中的多元素&n......
安捷伦ICP-MSAgilent 8900 可以用在电子/半导体行业领域，用来检测半导体级四甲基氢氧化铵 (TMAH)，可完成多元素 NP项目。符合多项行业标准。 使用 Agilent 8900 ICP-MS/MS，在多元素 spICP-MS 模式下，对 1% TMAH 中的多元素纳米颗粒进行了测定和表征。对于半导体级化学品中的多元素 NP&n......
安捷伦ICP-MSAgilent 8900 用于测定半导体级四甲基氢氧化铵 (TMAH)，符合行业标准。适用多元素 NP项目。 使用 Agilent 8900 ICP-MS/MS，在多元素 spICP-MS 模式下，对 1% TMAH 中的多元素纳米颗粒进行了测定和表征。对于半导体级化学品中的多元素 NP 分析，MS/MS 方法可实......
点击查看下载Prisma E SEM扫描电子显微镜扫描电镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X......
点击查看下载（原FEI) 透射电镜Verios XHR SEM 样本相关资料，进一步了解产品。 观测敏感的生物样本时，过高的成像电压带来的电子束会损伤样本，从而无法在细胞研究中观测关键细节。Verios XHR 扫描电子显微镜 (SEM) 最低可在 1kV 的电子束电压下工作，因而能最大限度减少样本干扰，同时又不会削弱分辨率和对比度。生物研究人员现在可以处......
点击查看下载Aquilos 2 Cryo-FIBFIB-SEM赛默飞 样本相关资料，进一步了解产品。 Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion Beam（冷冻聚焦离子束显微镜，Cryo-FIB）是一款专用的冷冻双束显微镜系统，可为高端冷冻透射断层扫描分析提供最佳的样品制备流程。核心优势:为使用 Autoloa......
点击查看下载赛默飞（原FEI) Verios XHR SEM 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 ......