NX2000

对超大样品的快速定位和成像超大的样本空间Nexcope NX2000 工业检测显微镜拥有超大的载物平台和超大的移动范围,主要用于 12 寸或者 300 毫米直径样品的精密观察,能够实现最大 200mm 的 Z 轴移动行程。微调手柄和内置离合器的移动手柄,能够对大面积样本进行快速定位。更换方便的载物台插件,无论您想要检验的样品是哪种类型,尺寸如何,均有种类丰富......

追求最完美的TEM样品制备工具在尖端设备及高性能纳米材料的评价和分析领域,FIB-SEM已成为不可或缺的工具。近来,目标观察物更趋微细化;更薄,更低损伤样品的制备需求更进一步凸显。日立高新公司,整合了高性能FIB技术和高分辨SEM技术,再加上加工方向控制技术以及Triple Beam®*1(选配)技术,推出了新一代产品NX2000特点运用高对比度,实时SEM......

日立 FIB-SEM三束系统NX2000产品介绍:追求最完美的TEM样品制备工具在尖端设备及高性能纳米材料的评价和分析领域,FIB-SEM已成为不可或缺的工具。近来,目标观察物更趋微细化;更薄,更低损伤样品的制备需求更进一步凸显。日立高新公司,整合了高性能FIB技术和高分辨SEM技术,再加上加工方向控制技术以及Triple Beam?*1(选配)技术,推出了......