全反射光谱仪
仪器简介TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以很大程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生，同时减小了载体的背景和噪声，亦可减少样品使用量......
仪器简介TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以很大程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生，同时减小了载体的背景和噪声，亦可减少样品使用量......
吉恩纳能散型XRFTX 2000用于测定液体固体，符合行业标准。适用含量项目。 仪器简介TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以很大程度上避......
吉恩纳 全反射X荧光光谱仪TX 2000适用于N/A项目，参考多项行业标准。可以检测N/A等样品。可应用于高分子材料行业领域。 TX2000 将全反射和传统的能量色散集成在同一台仪器上，创新光学编码器的步进电机，保证精确角度测量，软件控制Mo/W靶可自由切换，采用高分辨、低背景的帕尔贴控温硅漂移检测器。应用范围TX2000 可检测从钠Na到钚Pu所有元素含......
吉恩纳能散型XRFTX 2000可用于测定N/A，适用于N/A项目。并且参考多项行业标准。可应用于电子/半导体行业领域。 仪器简介TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部......
吉恩纳 全反射X荧光光谱仪HORIZON用于测定酱油，符合行业标准。适用元素含量项目。 仪器简介 TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以很......
吉恩纳 全反射X荧光光谱仪HORIZON用于测定液体固体，符合行业标准。适用含量项目。 TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以很大程度上避......
吉恩纳能散型XRFHORIZON用于测定N/A，符合行业标准。适用N/A项目。 仪器简介 TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以很大程度上......
TX3300全反射X射线荧光光谱仪是浪声科学经过多年XRF技术沉淀，专门设计研发用于痕量元素分析的便携式光谱仪，利用全反射X射线的原理，以极低的背景噪声和高灵敏度，可快速针对液体、悬浮液、固体和污染物，进行多元素痕量分析，为痕量元素分析领域提供了一种高效率、低成本的解决方案。TX3300体积小巧，便于携带和运输，非常适合野外分析或移动实验室的需求。具有高性能......
TX3800便携式全反射X射线荧光光谱仪专为精准检测而设计，能够在极低背景噪声下实现高灵敏度检测，可快速完成液体、悬浮液、固体及污染物样品中的痕量元素定性与定量分析，为用户提供高效可靠的分析手段，为痕量元素分析领域的高性能解决方案。TX3800凭借其制样简便、性能卓越、操作便捷、环保节能及经济高效等优势，成为环境监测、科研、质量控制等领域的理想分析工具。该仪......